[实用新型]用于测试待测元件泄漏的测试装置有效

专利信息
申请号: 201120429241.X 申请日: 2011-10-28
公开(公告)号: CN202267581U 公开(公告)日: 2012-06-06
发明(设计)人: 刘平;郁君 申请(专利权)人: 京西重工(上海)有限公司
主分类号: G01M3/28 分类号: G01M3/28
代理公司: 北京市金杜律师事务所 11256 代理人: 苏娟
地址: 200131 上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 用于 测试 元件 泄漏 装置
【权利要求书】:

1.一种用于测试待测元件泄漏的测试装置,所述测试装置包括第一工装(1)和第二工装(2),在所述第一工装(1)中央形成第一工装空腔(21),在所述第二工装(2)中央形成有与第一工装空腔(21)对中的第二工装空腔(22),所述待测元件被定位在所述第一工装空腔(21)和第二工装空腔(22)中,测试介质通过第二工装(2)进入待测元件,其中所述第二工装(2)还包括夹持件(4)、环形件(5)和盆形部(6),所述环形件(5)包围所述夹持件(4)并与所述夹持件(4)分别支撑在盆形部(6)内部的底部,所述夹持件(4)围绕盆形部(6)中央突起的环形壁(10),其中所述第一工装(1)和所述第二工装(2)的顶面之间设有第一道密封(36),在所述第二工装空腔(22)上部于所述夹持件(4)的内壁上设有第二道密封(31),并且在所述夹持件(4)与环形件(5)之间设有第三道密封(32)和第四道密封(33)。

2.按照权利要求1所述的测试装置,其特征在于,所述第二道密封(31)由横截面为矩形的环形槽和横截面为矩形的平面密封圈配合形成。

3.按照权利要求1所述的测试装置,其特征在于,所述夹持件(4)设有一条或多条横向通道(40)用于排出测试介质,所述第三道密封(32)位于所述横向通道(40)的下侧;所述第四道密封(33)位于所述横向通道(40)的上侧。

4.按照权利要求1所述的测试装置,其特征在于,

在位于所述夹持件(4)的变直径孔的肩部(41)与所述盆形部(6)的环形壁(10)顶部之间构成密封区,该密封区设置密封件形成第五道密封(34)。

5.按照权利要求1所述的测试装置,其特征在于,在所述环形件(5)由一个凸缘(11)安装在所述盆形部(6)的一个台阶(9)上,所述凸缘(11)和所述台阶(9)之间设置第六道密封(35)。

6.按照权利要求1所述的测试装置,其特征在于,在所述环形件(5)的面向所述盆形部(6)的底部的端侧沿外圆周面设有环形凹台(37),在所述环形凹台上设有密封件。

7.按照权利要求1、3或5中任意一项所述的测试装置,其特征在于,所述密封由槽和密封件配合形成。

8.按照权利要求7所述的测试装置,其特征在于,所述密封件是O型密封圈。

9.按照权利要求4所述的测试装置,其特征在于,所述密封件是矩型平面密封圈或者O型密封圈。

10.按照权利要求1所述的测试装置,其特征在于,所述第一道密封(36)设置在所述盆形部(6)和所述环形件(5)的接合部的径向外侧。

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