[实用新型]一种集成电路芯片测试接口板有效
| 申请号： | 201120444248.9 | 申请日： | 2011-11-10 |
| 公开（公告）号： | CN202330470U | 公开（公告）日： | 2012-07-11 |
| 发明（设计）人： | 于明;冯建科;王鑫 | 申请（专利权）人： | 北京自动测试技术研究所 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京汲智翼成知识产权代理事务所(普通合伙) 11381 | 代理人： | 陈曦 |
| 地址： | 100088 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 集成电路 芯片 测试 接口 | ||
【权利要求书】：
1.一种集成电路芯片测试接口板，其特征在于：
所述集成电路芯片测试接口板包括可选择连接模块、测试机通道、电源连接点和接地点；
所述可选择连接模块和所述测试机通道分布在被测集成电路芯片的周围，所述可选择连接模块位于被测集成电路芯片的管脚连接点和测试机通道的连接点之间；
所述电源连接点和所述接地点环绕被测集成电路芯片分布。
2.如权利要求1所述的集成电路芯片测试接口板，其特征在于：
所述电源连接点包括第一电源连接点和第二电源连接点，所述第一电源连接点位于被测集成电路芯片周围偏内侧的位置，所述第二电源连接点位于被测集成电路芯片周围偏外侧的位置。
3.如权利要求1所述的集成电路芯片测试接口板，其特征在于：
所述接地点与所述电源连接点对应设置，且位于相应电源连接点的内侧。
4.如权利要求1所述的集成电路芯片测试接口板，其特征在于；
所述接地点与所述电源连接点之间设有滤波电容。
5.如权利要求1所述的集成电路芯片测试接口板，其特征在于：
被测集成电路芯片的管脚连接点到可选择连接模块的管脚连接点之间的连线位于同一层电路板内。
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