[实用新型]一种集成电路芯片测试接口板

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种集成电路芯片测试接口板，属于集成电路测试技术领域。

背景技术

在集成电路芯片的测试过程中，集成电路芯片测试接口板(简称测试接口板)是必不可少的部分。它的作用是将集成电路芯片的管脚和集成电路测试设备的测试机通道一一对应地连接起来，使得在测试过程中，集成电路测试设备发出的驱动信号可以通过测试接口板准确无误地传输到指定的目标管脚或测试点上。同时，集成电路测试机接收到的集成电路芯片反馈信号通过测试接口板返回给集成电路测试设备。集成电路测试设备将返回的信号值与预期的信号值进行对比，判断出所测试的集成电路芯片的好坏。

目前，对于大规模多管脚集成电路芯片的测试工作，一般都采用为每种集成电路芯片专门订制测试接口板的方式。这是因为对于不同种类的集成电路芯片，其电源、地、还有各种数据线、地址线、时钟线、测试线、配置线等的位置都各有不同，很难用同一种测试接口板适配不同型号的集成电路芯片。但是，这种测试接口板与集成电路芯片的适配方式会造成巨大的资源浪费。

在专利号为ZL 200610116563.2的中国发明专利中，公开了一种用于半导体集成电路测试的器件接口板。它包括一个具有24引脚的双列直插式插座，在该插座的左右两侧各设置一个跳线结构，每一跳线结构，具有12行跳线，每一行跳线具有左、中、右三根跳线引针；左侧的跳线结构，每一行中间的跳线引针与所述插座对应的引脚相连接，左边的跳线引针与测试台的GND端相连接，右边的跳线引针与测试台的数字通道相连；右侧的跳线结构，每一行中间的跳线引针与所述插座对应的引脚相连接，右边的跳线引针与测试台的VDD端相连接，左边的跳线引针与测试台的数字通道相连。该器件接口板能够灵活调节其GND端和VDD端，从而用一块通用器件接口板完成对应多种引脚的器件的测试功能，既满足了具有不同管脚的半导体集成电路器件的测试要求，又降低了测试的成本。

发明内容

本实用新型所要解决的技术问题在于提供一种新型的集成电路芯片测试接口板。该测试接口板克服了现有技术中测试接口板固化无法改动的缺陷，可以根据不同集成电路芯片的需要灵活连线，达到一板多用的目的。

为实现上述的目的，本实用新型采用下述的技术方案：

一种集成电路芯片测试接口板，其特征在于：

所述集成电路芯片测试接口板包括可选择连接模块、测试机通道、电源连接点和接地点；

所述可选择连接模块和所述测试机通道分布在被测集成电路芯片的周围，所述可选择连接模块位于被测集成电路芯片的管脚连接点和测试机通道的连接点之间；

所述电源连接点和所述接地点环绕被测集成电路芯片分布。

其中较优地，所述电源连接点包括第一电源连接点和第二电源连接点，所述第一电源连接点位于被测集成电路芯片周围偏内侧的位置，所述第二电源连接点位于被测集成电路芯片周围偏外侧的位置。

其中较优地，所述接地点与所述电源连接点对应设置，且位于相应电源连接点的内侧。

其中较优地，所述接地点与所述电源连接点之间设有滤波电容。

其中较优地，被测集成电路芯片的管脚连接点到可选择连接模块的管脚连接点之间的连线位于同一层电路板内。

本实用新型所提供的测试接口板通过在集成电路芯片的管脚连接点和测试机通道的连接点之间加入可选择连接模块的方式，使原本只适用于一种集成电路芯片的连接模式变为可以为多种集成电路芯片所适用，提高了测试接口板的通用性，降低了开发成本。

附图说明

下面结合附图和具体实施例对本实用新型作进一步的详细说明。

图1为本测试接口板的一个实施例的整体结构示意图；

图2为本测试接口板的一个实施例中，管脚连接点、电源连接点和接地点的分布示意图；

图3为本测试接口板的一个实施例中，可选择连接模块的结构及布局示意图。

具体实施方式

在现有的集成电路封装产业中，采用176脚封装方式的集成电路芯片由于可以包括DSP等多种类型的芯片产品，因此该种封装方式的使用范围日益扩大。另一方面，通常为了节省集成电路测试设备的资源，需要将176脚封装方式的集成电路芯片通过128测试机通道进行测试。在这个测试过程中，现有技术不能很好地解决复杂的连线变更问题。本测试接口板是基于该实际需求而提出的，能够根据不同集成电路芯片的需要灵活连线，很好地解决这一问题。