[实用新型]半导体封装溢料清除装置有效

专利信息
申请号: 201120463321.7 申请日: 2011-11-21
公开(公告)号: CN202318690U 公开(公告)日: 2012-07-11
发明(设计)人: 黄海彪 申请(专利权)人: 无锡罗姆半导体科技有限公司;黄海彪
主分类号: B29C37/02 分类号: B29C37/02;H01L21/67;H01L21/56
代理公司: 江苏英特东华律师事务所 32229 代理人: 邵鋆
地址: 214142 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 半导体 封装 清除 装置
【权利要求书】:

1.半导体封装溢料清除装置,其特征在于,包括底座(1),底座(1)上固定有下刀座(2),下刀座(2)外侧面安装有一块下刀(3),下刀座(2)的上方对应有上刀座(4)以及安装在上刀座(4)外侧的一排上刀(5),上刀(5)和下刀(3)的刀口形状与封装好的半导体框架前半端外形一致,上刀座(4)固定在基板(6)上,基板(6)上方有一顶板(7),顶板(7)和底座(1)之间有支柱(8)以及滚珠套(12) 固定连接,基板(6)有对应的孔可以沿着支柱(8)上下的滑动。

2.根据权利要求1所述的半导体封装溢料清除装置,其特征在于,所述的上刀座(4)后方还有一压板(9),压板(9)通过导杆(10)和基板(6)、顶板(7)连接,基板(6)和顶板(7)上有对应的导杆孔,压板(9)与基板(6)之间有弹簧(11)套在导杆(10)上,压板(9)下边缘比上刀(5)下边缘低1~3mm。

3.根据权利要求1和2所述的半导体封装溢料清除装置,其特征在于,所述的下刀座(2)对应于压板(9)的部位有一个凸台(21),下刀座(2)后半部分为坡面。

4.根据权利要求3所述的半导体封装溢料清除装置,其特征在于,所述的凸台(21)上有突起(22)。

5.根据权利要求1所述的半导体封装溢料清除装置,其特征在于,所述的上刀(5)是由多个刀片组成,每个刀片通过上刀座(4)上的定位孔(41)安装和调节。

6.根据权利要求1所述的半导体封装溢料清除装置,其特征在于,所述的基板(6)上的孔内安装有滚珠套(12),滚珠套(12)套在支柱(8)上。

7.根据权利要求2所述的半导体封装溢料清除装置,其特征在于,所述的导杆(10)有四个,分布在压板(9)的两端。

8.根据权利要求1所述的半导体封装溢料清除装置,其特征在于,所述的顶板(7)上安装有气缸(13),气缸(13)下端固定在基板(6)上,带动基本(6)上下运动。

9.根据权利要求8所述的半导体封装溢料清除装置,其特征在于,所述的气缸(13)控制开关(14)是两个串联,分别位于顶板(7)的两端。

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