[实用新型]H型测力构架的浮沉载荷测试结构有效

专利信息
申请号: 201120486349.2 申请日: 2011-11-29
公开(公告)号: CN202471313U 公开(公告)日: 2012-10-03
发明(设计)人: 刘志明;孙守光;任尊松;李强;谢基龙 申请(专利权)人: 北京交通大学
主分类号: G01L1/22 分类号: G01L1/22;G01M17/08
代理公司: 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 11139 代理人: 孙皓晨
地址: 100044*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 测力 构架 浮沉 载荷 测试 结构
【权利要求书】:

1.一种H型测力构架的浮沉载荷测试结构,其特征在于:包括一套由规格相同的第五应变片(5)、第六应变片(6)、第九应变片(9)以及第十应变片(10)组成的浮沉载荷全桥电路,其中:

第五应变片(5)与第六应变片(6)均粘贴于构架左侧梁(93)下盖板中心处的侧梁底面中性层位置,第九应变片(9)与第十应变片(10)均粘贴于构架右侧梁(94)下盖板中心处的侧梁底面中性层位置,而且,第六应变片(6)和第十应变片(10)均沿构架纵向粘贴,第五应变片(5)和第九应变片(9)均沿构架横向粘贴。

2.根据权利要求1所述的H型测力构架的浮沉载荷测试结构,其特征在于:第五应变片(5)和第六应变片(6)组成邻臂,第九应变片(9)和第十应变片(10)组成邻臂;第五应变片(5)和第九应变片(9)组成对臂,第六应变片(6)和第十应变片(10)组成对臂。

3.根据权利要求1或2所述的H型测力构架的浮沉载荷测试结构,其特征在于:第五应变片(5)和第六应变片(6)连接后输出信号,第九应变片(9)和第十应变片(10)连接后输出信号;第五应变片(5)和第十应变片(10)连接后接电源,第六应变片(6)和第九应变片(9)连接后接电源。

4.根据权利要求3所述的H型测力构架的浮沉载荷测试结构,其特征在于:还包括一套备用的浮沉载荷测试结构。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京交通大学,未经北京交通大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201120486349.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top