[实用新型]一种用于VXI总线数字测试系统的老化模块有效
| 申请号： | 201120523266.6 | 申请日： | 2011-12-14 |
| 公开（公告）号： | CN202339398U | 公开（公告）日： | 2012-07-18 |
| 发明（设计）人： | 李杰;张东;蒋常斌 | 申请（专利权）人： | 北京自动测试技术研究所 |
| 主分类号： | G01R31/3181 | 分类号： | G01R31/3181 |
| 代理公司： | 北京汲智翼成知识产权代理事务所(普通合伙) 11381 | 代理人： | 陈曦;贾兴昌 |
| 地址： | 100088 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 用于 vxi 总线 数字 测试 系统 老化 模块 | ||
【权利要求书】：
1.一种用于VXI总线数字测试系统的老化模块，其特征在于：
所述老化模块包括主控制器、配置存储器、多个老化测试模块、继电器矩阵和老化电阻；其中，
所述主控制器一方面连接集成电路测试仪，另一方面分别连接所述配置存储器、所述继电器矩阵和各所述老化测试模块；
所述配置存储器与所述主控制器连接，用于存储老化测试的配置程序；
所述继电器矩阵一方面连接集成电路测试仪，另一方面连接所述老化电阻。
2.如权利要求1所述的老化模块，其特征在于：
所述老化模块中还包括转接卡座。
3.如权利要求1所述的老化模块，其特征在于：
所述老化模块中还包括JTAG接口，所述JTAG接口连接所述主控制器。
4.如权利要求1所述的老化模块，其特征在于：
所述主控制器由微控制器和复杂可编程逻辑器件组成，所述微控制器用于控制所述配置存储器和测试仪资源，所述复杂可编程逻辑器件用于提供所述继电器矩阵的继电器控制位。
5.如权利要求1所述的老化模块，其特征在于：
所述配置存储器为E2PROM或者FLASH。
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