[实用新型]一种用于VXI总线数字测试系统的老化模块

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种集成电路老化模块，尤其涉及一种用于VXI总线数字测试系统的老化模块，属于集成电路测试技术领域。

背景技术

VXI总线(VXI bus)是VME bus Extensions for Instrumentation的缩写。它是继IEEE488总线之后，为适应测量仪器从分立的台式和机架式结构发展为更紧凑的模块式结构的需要，而推出的一种新的总线标准。

VXI总线系统是一种计算机控制的功能系统，一般由主机箱、若干器件、资源管理器和主控制器组成。组成VXI总线系统的基本逻辑单元称为“器件”。一般来说，一个器件占据一块VXI模块，也允许在一块模块上实现多个器件或者一个器件占据多块模块。当若干个用于集成电路测试的VXI模块基于VXI总线进行搭建时，就组成了VXI总线数字测试系统。这些VXI模块一般包括PMU(精密测量单元)模块、通道模块、电源模块、图形模块等。

在集成电路测试工作中，用于集成电路中测生产线的数字测试系统一般都要求24小时运行，并且要保证一定时间内测试的稳定性和精确度，这就对集成电路测试系统在长时间工作的情况下各个模块的运行稳定性和工作精度提出了严格的要求。另一方面，集成电路测试系统中一些潜在的隐患和问题一般都要经过长时间的运行才会暴露出来。面对这样的问题，开发一套用于集成电路测试系统老化测试的老化模块就显得很有必要了。

在专利号为ZL 200710120719.9的中国发明专利中，公开了一种集成电路高温动态老化测试方法及测试装置。该方法将集成电路焊接在老化子板上，并对老化子板进行功能验证测试和动态工作模式测试；将测试通过的焊有集成电路的老化子板插接在通用老化板的接口插座上，将通用老化板接入老化测试系统中，进行老化测试；根据测试标准，在不同的时间点对老化子板进行功能验证测试和动态工作模式测试，以证明集成电路是否仍能正常工作。该发明适用于多种不同封装产品的通用测试，不需再根据不同封装型式的产品订制专用的老化板，从而减少了测试的准备时间，降低了测试周期，并节约了测试成本。

发明内容

本实用新型所要解决的技术问题在于提供一种用于VXI总线数字测试系统的老化模块。该装置可以用于各种VXI总线数字测试系统的老化测试工作。

为实现上述的目的，本实用新型采用下述的技术方案：

一种用于VXI总线数字测试系统的老化模块，其特征在于：

所述老化模块包括主控制器、配置存储器、多个老化测试模块、继电器矩阵和老化电阻；其中，

所述主控制器一方面连接集成电路测试仪，另一方面分别连接所述配置存储器、所述继电器矩阵和各所述老化测试模块；

所述配置存储器与所述主控制器连接，用于存储老化测试的配置程序；

所述继电器矩阵一方面连接集成电路测试仪，另一方面连接所述老化电阻。

其中较优地，所述老化模块中还包括转接卡座。

其中较优地，所述老化模块中还包括JTAG接口，所述JTAG接口连接所述主控制器。

其中较优地，所述主控制器由微控制器和CPLD组成，所述微控制器用于控制所述配置存储器和测试仪资源，所述CPLD用于提供所述继电器矩阵的继电器控制位。

其中较优地，所述配置存储器为E²PROM或者FLASH。

本实用新型所提供的老化模块可以与各种VXI总线数字测试系统相互配合，自动完成相关数字测试系统的老化测试工作，配置灵活，操作方便。

附图说明

下面结合附图和具体实施方式对本实用新型作进一步的详细说明。

图1是本实用新型所提供的老化模块的整体原理示意图；

图2是本老化模块中，主控制器的原理示意图；

图3是本老化模块中，CPLD的配置示意图；

图4是本老化模块中，继电器矩阵的示意图。

具体实施方式