[实用新型]制备同轴波导法测试样件的模具

权利要求书

1.一种制备同轴波导法测试样件的模具，它包括相互匹配的阳模(1)和阴模(2)，其特征在于：它还包括同轴外导体(3)和同轴内导体(4)，所述阳模(1)包括阳模底座(5)、同轴外导体定位柱(6)和同轴内导体定位柱(7)，所述阳模底座(5)、同轴外导体定位柱(6)和同轴内导体定位柱(7)均为实心同轴圆柱体，所述阴模(2)、同轴外导体(3)和同轴内导体(4)均为中空圆柱体，阴模(2)沿轴向套在同轴外导体定位柱(6)上，同轴外导体(3)位于阳模(1)和阴模(2)构成的圆槽内，同轴内导体(4)沿轴向套在同轴内导体定位柱(7)上。

2.如权利要求1所述的制备同轴波导法测试样件的模具，其特征在于：所述同轴外导体(3)和同轴内导体(4)为垫片型中空圆柱体。

3.如权利要求1所述的制备同轴波导法测试样件的模具，其特征在于：所述同轴外导体(3)和同轴内导体(4)均采用黄铜制成。

4.如权利要求1所述的制备同轴波导法测试样件的模具，其特征在于：所述阴模(2)、阳模底座(5)、同轴外导体定位柱(6)和同轴内导体定位柱(7)均采用不锈钢材料制成。

5.如权利要求1所述的制备同轴波导法测试样件的模具，其特征在于：所述阴模(2)的外径＝阳模底座(5)的直径。

6.如权利要求5所述的制备同轴波导法测试样件的模具，其特征在于：所述阴模(2)的高度＝同轴外导体定位柱(6)的高度+同轴外导体(3)的高度。

7.如权利要求6所述的制备同轴波导法测试样件的模具，其特征在于：所述同轴外导体(3)的外径＝同轴外导体定位柱(6)的直径，略小于阴模(2)的内径，同轴内导体(4)的外径＜同轴外导体(3)的内径＜同轴外导体定位柱(6)的直径。

8.如权利要求7所述的制备同轴波导法测试样件的模具，其特征在于：所述同轴内导体定位柱(7)的直径略小于同轴内导体(4)的内径，同轴内导体(4)的内径＜同轴内导体(4)的外径＜同轴外导体定位柱(6)的直径。

9.如权利要求8所述的制备同轴波导法测试样件的模具，其特征在于：所述同轴外导体(3)的高度＝同轴内导体(4)的高度＝同轴内导体定位柱(7)的高度。

10.如权利要求1至9中任一项所述的制备同轴波导法测试样件的模具，其特征在于：所述同轴外导体(3)、同轴内导体(4)和同轴内导体定位柱(7)高度均为2.00±0.01毫米，同轴外导体定位柱(6)高度为20.00±0.01毫米，阴模(2)高度为22.00±0.01毫米。