[实用新型]制备同轴波导法测试样件的模具

说明书

技术领域

本实用新型涉及微波材料检测领域，特别是涉及一种制备同轴波导法测试样件的模具。 

背景技术

电磁参数是用以表征介电或电磁双复损耗材料本质特性的重要方法之一。该参数多采用矩形波导法和同轴波导法进行测量。用同轴波导法测试材料的电磁参数时，需要两根同轴电缆，每根同轴波导测试电缆有两个端口：一个端口用来与矢量网络测量仪的输入或输出端口相连，另一个端口在测试时将被测材料放置在两个端口之间，这两个端口分别为母头和公头，将公、母两个端口对接后，可对材料进行电磁参数测量。 

同轴波导法测量对测试样件的尺寸要求较高。同轴波导法测试样件一般用模具成型的方式制备。此前用来制备同轴测试样件的模具有多种，但有两种模具用得较为普遍。一种模具是按照标准样件的尺寸分别制备阴模和阳模，在具体制备测试样件时，先将混合了粘接材料的粉体填入模具的凹腔(即阴模)，然后合上阳模，再用锤子等工具对阳模外表面进行敲击，使混合粉体材料受压成型。该方法的最大缺点在于：混合粉体材料脱模后，制备好的测试样件因强度较低容易发生变形，测试样件放入同轴电缆内受压也容易变形，直接影响测量的准确性。采用敲击阳模外表面的方法制备测试样件还有一个难以克服的问题，即余料不易排出来，直接影响所制备的测试样件的质量。 

另外一种用来制备测试样件的模具，其原理与“敲击法”的模具相似，也是分为阴模与阳模，只是在具体制备测试样件时，将“敲击法”改为“拧紧法”，即用螺纹拧紧的方式制备测试样件。用该法制备的测试样件与“敲击法”制备的样件存在着相同的缺陷，这些缺陷对测试样件的电磁参数的精度有较大影响。 

实用新型内容

本实用新型的目的是为了克服上述背景技术的不足，提供一种制备同轴波导法测试样件的模具，其制备的测试样件重复性强，余料容易排出来，尺寸精度高，强度增大，不易变形，测试样件的质量有保证，彻底解决了“敲击法”和“拧紧法”制备的测试样件重复性差、尺寸精度差或变形影响测量精度的问题。 

本实用新型提供的制备同轴波导法测试样件的模具，它包括相互匹配的阳模和阴模，它还包括同轴外导体和同轴内导体，所述阳模包括阳模底座、同轴外导体定位柱和同轴内导体定位柱，所述阳模底座、同轴外导体定位柱和同轴内导体定位柱均为实心同轴圆柱体，所述阴模、同轴外导体和同轴内导体均为中空圆柱体，阴模沿轴向套在同轴外导体定位柱上，同轴外导体位于阳模和阴模构成的圆槽内，同轴内导体沿轴向套在同轴内导体定位柱上。 

在上述技术方案中，所述同轴外导体和同轴内导体为垫片型中空圆柱体。 

在上述技术方案中，所述同轴外导体和同轴内导体均采用黄铜制成。 

在上述技术方案中，所述阴模、阳模底座、同轴外导体定位柱和同轴内导体定位柱均采用不锈钢材料制成。 

在上述技术方案中，所述阴模的外径＝阳模底座的直径。 

在上述技术方案中，所述阴模的高度＝同轴外导体定位柱的高度+同轴外导体的高度。 

在上述技术方案中，所述同轴外导体的外径＝同轴外导体定位柱的直径，略小于阴模的内径，同轴内导体的外径＜同轴外导体的内径＜同轴外导体定位柱的直径。 

在上述技术方案中，所述同轴内导体定位柱的直径略小于同轴内导体的内径，同轴内导体的内径＜同轴内导体的外径＜同轴外导体定位柱的直径。 

在上述技术方案中，所述同轴外导体的高度＝同轴内导体的高度＝同轴内导体定位柱的高度。 

在上述技术方案中，所述同轴外导体、同轴内导体和同轴内导体定位柱高度均为2.00±0.01毫米，同轴外导体定位柱高度为20.00±0.01毫米，阴模高度为22.00±0.01毫米。 

与现有技术相比，本实用新型的优点如下： 

采用本实用新型提供的模具制备的测试样件强度增大，不易变形，余料容易排出来，测试样件的质量有保证，彻底解决了“敲击法”和“拧紧法”制备的测试样件重复性差、尺寸精度差或变形影响测量精度的问题，可用于粉体介电或电磁双复损耗材料采用同轴波导法进行电磁参数测试时标准测试样件的制备。 

附图说明

图1是本实用新型实施例的立体结构示意图。 

图2是本实用新型实施例的分解结构示意图。 

图中：1-阳模，2-阴模，3-同轴外导体，4-同轴内导体，5-阳模底座，6-同轴外导体定位柱，7-同轴内导体定位柱。 

具体实施方式

下面结合附图及实施例对本实用新型作进一步的详细描述。