[实用新型]一种可测试精密IC的测试座有效
| 申请号： | 201120564560.1 | 申请日： | 2011-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN202404123U | 公开（公告）日： | 2012-08-29 |
| 发明（设计）人： | 彭玉元 | 申请（专利权）人： | 彭玉元 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518000 广东省深圳*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 测试 精密 ic | ||
【权利要求书】：
1.一种可测试精密IC的测试座，包括上盖(1-1)及下盖(1-4)，所述上盖(1-1)及下盖(1-4)通过铰接轴(1-2)铰接，其特征在于，所述下盖(1-4)上设有测试座(1-3)，所述测试座(1-3)内填充导电胶条(2-1)，导电胶条(2-1)内穿插金丝(2-2)。
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