[实用新型]一种检测探针卡试打位置的测试键有效

专利信息
申请号: 201120569728.8 申请日: 2011-12-30
公开(公告)号: CN202533467U 公开(公告)日: 2012-11-14
发明(设计)人: 王政烈;肖艳玲;夏洪旭 申请(专利权)人: 和舰科技(苏州)有限公司
主分类号: G01R1/067 分类号: G01R1/067
代理公司: 北京连和连知识产权代理有限公司 11278 代理人: 贺小明
地址: 215123 江苏省苏*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 检测 探针 卡试打 位置 测试
【权利要求书】:

1.一种检测探针卡试打位置的测试键,其特征在于,所述测试键设置有用于衡量探针卡试打位置的标尺。

2.根据权利要求1所述的检测探针卡试打位置的测试键,其特征在于,所述测试键每一层都设置有用于衡量探针卡试打位置的标尺。

3.根据权利要求1所述的检测探针卡试打位置的测试键,其特征在于,所述测试键还设置有测试焊垫,所述标尺位于测试键的第一个测试焊垫的左边和最后一个测试焊垫的右边。

4.根据权利要求3所述的检测探针卡试打位置的测试键,其特征在于,所述测试焊垫设置有金属视窗或焊垫视窗,所述标尺具有标示出所述金属视窗或焊垫视窗的上下位置的第一组刻度。

5.根据权利要求4所述的检测探针卡试打位置的测试键,其特征在于,所述第一组刻度为距金属视窗或焊垫视窗上面6μm和下面6μm的位置所标出的刻度。

6.根据权利要求3或4所述的检测探针卡试打位置的测试键,其特征在于,所述的标尺还具有标示出金属视窗或焊垫视窗的中间位置的第二组刻度。

7.根据权利要求6所述的检测探针卡试打位置的测试键,其特征在于,所述第二组刻度为在所述第一组刻度之间平分4等分的位置所标出的刻度。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于和舰科技(苏州)有限公司,未经和舰科技(苏州)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201120569728.8/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top