[发明专利]有机EL 显示装置及其制造方法有效
申请号: | 201180001814.1 | 申请日: | 2011-02-16 |
公开(公告)号: | CN102428510A | 公开(公告)日: | 2012-04-25 |
发明(设计)人: | 小田原理惠;濑川泰生 | 申请(专利权)人: | 松下电器产业株式会社 |
主分类号: | G09G3/30 | 分类号: | G09G3/30;G09G3/20;H01L51/50;H05B33/10 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人: | 周春燕;段承恩 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 有机 el 显示装置 及其 制造 方法 | ||
1.一种有机EL显示装置的制造方法,包括:
第1步骤,获得包含多个像素的显示面板整体所共同的代表电流-电压特性,所述像素包含发光元件和对向所述发光元件的电流的供给进行控制的电压驱动的驱动元件;
第2步骤,将所述显示面板分割为多个分割区域,对各像素所包含的驱动元件施加电压,测定流动于各分割区域的电流以及流动所述电流的情况下从各分割区域发出的光的辉度而求取各分割区域的电流-辉度特性,对于所述各分割区域求取发光效率以及偏移辉度值,所述发光效率是该电流-辉度特性的倾斜度,所述偏移辉度值是该电流-辉度特性的辉度轴截距;
第3步骤,用预定的测定装置测定从所述显示面板所包含的多个像素的各个发出的光的辉度,求取各像素的辉度-电压特性;
第4步骤,将所述代表电流-电压特性的各电流值乘以对所述各分割区域求取的所述发光效率,并将该相乘值与对所述各分割区域求取的所述偏移辉度值相加,由此对所述各分割区域求取辉度-电压特性;以及
第5步骤,对作为对象的像素求取校正参数,所述校正参数是使在所述第3步骤求取的所述作为对象的像素的辉度-电压特性成为在所述第4步骤求取的包含所述作为对象的像素的分割区域的辉度-电压特性的校正参数。
2.如权利要求1所述的有机EL显示装置的制造方法,
在所述第3步骤,
通过对所述显示面板所包含的多个像素施加预定的电压,使所述多个像素同时发光;
用预定的测定装置拍摄从所述多个像素同时发出的光;
获得所述拍摄而得到的图像;
根据所述获得的图像确定所述多个像素的各个的辉度;以及
使用所述预定的电压以及所确定的所述多个像素的各个的辉度,求取所述多个像素的各个的辉度-电压特性。
3.如权利要求2所述的有机EL显示装置的制造方法,
所述预定的测定装置为图像传感器。
4.如权利要求2或3所述的有机EL显示装置的制造方法,
在所述第4步骤,
判断所述作为对象的像素在显示面板上的位置,在所述作为对象的像素存在于与不包含该像素的其他周边分割区域的边界位置附近的情况下,用包含所述作为对象的像素的分割区域的发光效率以及偏移辉度值和所述其他周边分割区域的发光效率以及偏移辉度值进行加权而求取所述作为对象的像素的发光效率以及偏移辉度值;以及
将所述代表电流-电压特性的各电流值乘以所述作为对象的像素的发光效率,并将该相乘值与所述作为对象的像素的偏移辉度值相加,由此对所述作为对象的像素求取作为目标的辉度-电压特性,所述作为目标的辉度-电压特性是求取所述作为对象的像素的校正参数时的目标;
在所述第5步骤,
对所述作为对象的像素求取校正参数,所述校正参数是使在所述第3步骤求取的所述作为对象的像素的辉度-电压特性成为在所述第4步骤求取的所述作为对象的像素的目标辉度-电压特性的校正参数。
5.如权利要求4所述的有机EL显示装置的制造方法,
在所述第4步骤,
在求取所述作为对象的像素的发光效率以及偏移辉度值时,所述作为对象的像素越接近于与所述其他周边分割区域的边界位置,越多考虑所述其他周边分割区域的发光效率以及偏移辉度值而进行加权。
6.如权利要求5所述的有机EL显示装置的制造方法,
在所述第4步骤,
在求取所述作为对象的像素的发光效率以及偏移辉度值时,根据从所述作为对象的像素到包含所述作为对象的像素的分割区域的中心位置的距离与从所述作为对象的像素到所述其他周边分割区域的中心位置的距离之比,求取所述作为对象的像素的发光效率以及偏移辉度值。
7.如权利要求1~6中的任意一项所述的有机EL显示装置的制造方法,
在所述第2步骤,
作为所述各分割区域的发光效率以及偏移辉度值,利用在以同一条件制造的其他有机EL显示装置的制造方法中求取的所述发光效率以及所述偏移辉度值。
8.如权利要求1~7中的任意一项所述的有机EL显示装置的制造方法,
在所述第1步骤,
作为所述代表电流-电压特性,利用在以同一条件制造的其他有机EL显示装置的制造方法中获得的代表电流-电压特性。
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