[发明专利]有机EL 显示装置及其制造方法

说明书

技术领域

本发明涉及有机EL显示装置及其制造方法，特别涉及有源矩阵型的有机EL显示装置及其制造方法。

背景技术

作为使用了电流驱动型的发光元件的图像显示装置，已知使用了有机EL元件的图像显示装置(有机EL显示器)。该有机EL显示器因为具有视角特性优良且功耗低的优点，所以作为下一代的FPD(Flat PanelDisplay，平板显示器)候选而受到关注。

在有机EL显示器中，通常将构成像素的有机EL元件配置为矩阵状。将如下的有机EL显示器称为无源矩阵型的有机EL显示器，即该有机EL显示器：在多个行电极(扫描线)与多个列电极(数据线)的交叉处设置有机EL元件，在所选择的行电极与多个列电极间施加相当于数据信号的电压而驱动有机EL元件。

另一方面，将如下的有机EL显示器称为有源矩阵型的有机EL显示器，即该有机EL显示器：在多条扫描线与多条数据线的交叉处设置薄膜晶体管(TFT：Thin Film Transistor)，在该TFT上连接驱动晶体管的栅极，通过所选择的扫描线使该TFT导通而从数据线对驱动晶体管输入数据信号，通过该驱动晶体管驱动有机EL元件。

与仅在选择各行电极(扫描线)的期间、与其连接的有机EL元件发光的无源矩阵型的有机EL显示器不同，在有源矩阵型的有机EL显示器中，由于可以使有机EL元件发光至下一次扫描(选择)，所以即使占空比上升也不会引起显示器的辉度减小。因此，由于可以用低电压驱动，所以可以实现低功耗化。然而，在有源矩阵型的有机EL显示器中，有如下缺点：因驱动晶体管和/或有机EL元件的特性的不均一，即使提供相同数据信号，各像素中有机EL元件的辉度也不同，会产生辉度不均。

作为以往的有机EL显示器中的、对由在制造工序产生的驱动晶体管和/或有机EL元件的特性的不均一(以下，统称为特性的不均等)引起的辉度不均进行补偿的方法，代表性的有由复杂的像素电路进行的补偿、用外部存储器的补偿等。

但是，复杂的像素电路会降低成品率。另外，无法对各像素的有机EL元件的发光效率的不均等进行补偿。

由于上述原因，有人提出了几个通过外部存储器按每像素对特性的不均等进行补偿的方法。

例如，在专利文献1所公开的电光装置、电光装置的驱动方法、电光装置的制造方法以及电子设备中，在电流程序像素电路中，以最低1种输入电流测定各像素的辉度，并将所测定的各像素的辉度比存储于存储电容，基于该辉度比对图像数据进行校正，通过该校正后的图像数据，进行电流程序像素电路的驱动。由此，可以抑制辉度不均，可以进行均匀的显示。

专利文献1：特开2005-283816号公报

发明内容

然而，在该解决方案中，在使用外部存储器的辉度不均的补偿中，需要进行辉度或者电流的初始测定。

在对电流进行初始测定而校正辉度不均的情况下，为了考虑电路整体的寄生电容和/或布线电阻而高精度地测定所希望的电流，必须延长初始测定的时间。由此，如果边确保校正精度边执行辉度不均的补偿，则存在导致制造成本的增加的问题。特别是，存在如下课题：面板越为大画面，另外输入灰度等级越增加，测定面板整面越耗费时间，对制造成本带来越大负担。

另外，在不对各像素的电流进行初始测定而对于电压输入进行辉度的初始测定来校正辉度不均的情况下，变为一同测定驱动晶体管以及有机EL元件双方的不均一，可以一同校正双方的不均一。

图19是说明有机EL显示器中的以往的校正方法的一例的图。在校正前，有机EL显示器具有反映了因有机EL元件引起的辉度分布和因驱动晶体管引起的辉度分布双方的辉度分布。相对于此，在对于电压输入测定辉度的以往的校正方法中，由于对有机EL元件的不均一以及驱动晶体管的不均一双方进行校正，所以校正后的有机EL显示器具有均匀的辉度分布。然而，为了得到上述均匀的辉度分布，使流动于有机EL元件的电流按每像素不同。在该情况下，存在如下课题：对于有机EL元件施加的电流负荷按每像素不同，会助长因有机EL元件的寿命引起的辉度劣化的不均一，反而会诱发因历时变化引起的辉度不均的产生。

本发明鉴于上述的课题，目的在于提供一种降低用于生成辉度不均校正参数的制造成本且抑制了因历时变化引起的辉度不均的有机EL显示装置及其制造方法。