[发明专利]用于测量散射特性的装置、用于宝石的散射光的色彩测量装置、用于测量宝石的亮度的装置以及用于测量宝石的发光分布的装置无效
申请号: | 201180004786.9 | 申请日: | 2011-04-28 |
公开(公告)号: | CN102893142A | 公开(公告)日: | 2013-01-23 |
发明(设计)人: | 二宫洋文;川口昭夫 | 申请(专利权)人: | 二宫宝石株式会社 |
主分类号: | G01N21/87 | 分类号: | G01N21/87 |
代理公司: | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 11019 | 代理人: | 寿宁 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 测量 散射 特性 装置 宝石 色彩 亮度 以及 发光 分布 | ||
1.一种用于测量散射体的性质的装置可自该散射体在当收到具有某一波长分布的电磁波时的立体镜散射分布测量出散射体的性质,其包含:
一抛物形映镜或一抛物形屏幕;
一样本平台,用于将该散射体放置在该抛物形映镜或抛物形屏幕的焦点上;
一产生器,用于产生该电磁波;以及
一成像装置,用于将散射波成像如平面影像,这些散射波是由该散射体在当收到来自该产生器的电磁波时所散射,并且接着所述电磁波反射离于该抛物形映镜或投射于该抛物形屏幕上,
其中该待予测量的散射体系经放置在该样本平台上;
其中该电磁波是自一以前述焦点作为其中心的假设性球形表面的至少任何一或更多方向上,或是一或更多连续方向上,照射于该散射体上;以及
其中由该散射体所散射且反射离于该抛物形映镜或是投射到该抛物形屏幕上的散射波是由该成像装置成像如平面成像数据,并且
其中由按此所获得的成像数据可得到该散射体所产生的散射波的立体镜分布,借以从该分布结果测量出该散射体的性质,以及其中所述散射波是小于该截面上一曲线的3pi/4(弪度量)的范围内所获得,而具有该焦点的假设性球形表面的中央轴线是位在其中央处。
2.一种用于宝石的散射光线的色彩测量装置是利用根据申请专利范围第1项的用于测量散射体的性质的装置来测量宝石散射光线的色彩,
其中自该产生器照射出白色平行光线到宝石;
其中由该散射体所散射且反射离于该抛物形映镜或投射在该抛物形屏幕上的散射波是由该成像装置成像为平面成像数据,并且
其中可按量化方式测量出借此所获得的宝石散射光线成像数据、色彩散射或波长分布。
3.一种用于测量钻石亮度的装置是利用根据申请专利范围第1项的用于测量散射体的性质的装置,借以测量宝石在当收到自然光线时所闪烁的烁光的立体镜分布,其包含:
一光源,而非产生器,以供产生平行光线,
其中将一待予测量的宝石放置在样本平台上;以及
其中借由环绕该中央轴线按至少90度彼此相对地旋转至少该平行光线及该宝石,以将来自该光源的平行光线按至少在该抛物形映镜或抛物形屏幕的中央轴线的方向与法向于该中央轴线的方向间的方向上照射到该宝石上,以及
其中然后自该宝石所产生的光线反射离于该抛物形映镜或是投射在该抛物形屏幕上,并且借由该成像装置成像为平面成像数据,以及其中自如此所获的平面成像数据计算出由该宝石所产生的光线的立体发光分布,包含光线的大小和数量在内。
4.一种用于根据申请专利范围第3项的用于宝石的散射光线的色彩测量装置,而未含光源,以测量发光分布的装置可测量一自发光性发光体的发光分布并且具有下列特性:运用到一抛物形映镜或抛物形屏幕;在利用抛物形映镜的情况下,可将一发光体放置在该抛物形映镜的焦点上;自位于该抛物形映镜焦点上的发光体所发射的光线被该抛物形映镜反射,然后由成像装置予以成像;或另者,在利用抛物形屏幕的情况下,可将一发光体放置在该抛物形屏幕的焦点上;自位于该抛物形屏幕中央轴在线的发光体所发射的光线被投射到该抛物形屏幕上然后成像;借由分析该成像数据,即可测量出该发光体的立体发光分布。
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