[发明专利]用于测量散射特性的装置、用于宝石的散射光的色彩测量装置、用于测量宝石的亮度的装置以及用于测量宝石的发光分布的装置无效
申请号: | 201180004786.9 | 申请日: | 2011-04-28 |
公开(公告)号: | CN102893142A | 公开(公告)日: | 2013-01-23 |
发明(设计)人: | 二宫洋文;川口昭夫 | 申请(专利权)人: | 二宫宝石株式会社 |
主分类号: | G01N21/87 | 分类号: | G01N21/87 |
代理公司: | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 11019 | 代理人: | 寿宁 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 测量 散射 特性 装置 宝石 色彩 亮度 以及 发光 分布 | ||
技术领域
本发明是关于一种经提供以,当多个散射体受曝于拥有某一波长分布的电磁波时,从所述散射体的立体镜散射分布来测量所述散射体的性质的装置。本发明也有关一种用于宝石的散射光线的色彩测量装置,并且有关一种用于测量宝石的亮度的装置,其中该用以测量散射体的性质的装置是经应用于宝石的散射光线色彩的测量作业以及宝石的亮度的测量作业。此外,本发明是关于测量一自发光性发光体的发光分布的装置。
本发明在巴黎协议下的优先权主张依据于2010年5月25日所申审的日本专利申请案第2010-119349号(“A Device for Measuring Brightness of Gemstones”),以及于2010年11月15日所申审的日本专利申请案第2010-254869号(“A Device for Measuring Properties of Scatterers and A Measuring Device for Scattered Light of Gemstones”)。
在本专利案文里,在原始案文中所见的许多特殊字母及符号是由图14中表格列述者所取代。
背景技术
本发明的申请人既已提议一种用于测量宝石的亮度的装置,该装置可按照在2010年5月25日申审的日本专利申请案第2010-119349号内的客观方式,对宝石当在收受到自然光线时所闪烁的烁光进行测量。后文中将首先是引述该项经并入于本发明内的申请案的内容来说明该用以测量宝石的亮度的装置的背景技术。
“专利文件1”揭示该用以测量宝石亮度的装置的其一范例,即如本发明的图14中所绘示者。图14为该“专利文件1”里所揭示的用以测量宝石亮度的装置的外表的外观视图,此为本发明用以测量宝石亮度的装置的背景技术。
该用以测量宝石亮度的装置60具备作为测量目标的用的钻石。在一透明玻璃圆形盘片51b的中央处将一钻石放置在该桌台上,而其冠部接触于该透明玻璃表面,然后覆盖以一具有白色内部表面的半圆形顶盖51a。借由在该玻璃圆形盘片51b的正下方处上下地移动一环状光源52,自该冠部侧边的入射光线角度即出现变化。借由在该环状光源52的下方处排置一侦测器55,可为CCD相机,只有与该冠部桌台大致相垂直的散射光线方才会按如该视野内的亮点所测量到。
以此装置60,该冠部是经设置在底部处,而亭部则是设置在顶上处。自该冠部侧边的入射光线角度会随着该环状光源52的上下移动而改变。可对光线强度进行测量,使得能够借由在该垂直轴上经紧随设置于该桌台表面下方处的侦测器55来侦测出各个入射角度的入射光线(亦即根据该环状光源的高度的变化而定),然后予以累积。自该亭部侧边以分散方式射出的散射光线会由白色半圆形顶盖51a所弹射并且再度进入。在这些光线之中,自该桌台侧边的法线方向上进入到该侦测器内的光线也按如“烁光”而累积至该光线强度数值内。
因此,该装置60并无法对这些亮点的大小(散射光线的立体角度)进行评估,而仅能计算进入到视野内的强烈散射光线的数量。所以,微小亮点(具有微小立体角度的散射光线)会由于大量的计数值的故过度高估,然来自于较大的小面部而具有较大立体角度的散射光线则为过度低估。
由于人眼敏感的亮度是依据亮点大小(亦即反射表面、小面部的尺寸)而定,因此即使整体的散射光线强度量值为相同,“拥有藉散射光线而各者具备较大反射立体角度并且数量为少的亮点”的钻石能够提供较高的审美印象。相反地,“拥有藉散射光线而各者具备微小反射立体角度并且数量众多的亮点”的钻石就比较不具吸引力,因为人眼敏感然经评估为“释出高度烁光的样本”的烁光实仅因大量的计数值和散射光线的总体光线强度。
此外,在该装置60里,该玻璃圆形盘片51b的中央轴线以及该侦测器55,亦即CCD相机,的轴线为彼此重合,同时该光源52是在一对称位置处按环形方式排置。这种排置方式是经假想性地选定,借以避免强烈光线,亦即离于该桌台表面的最强烈反射光线,进入到该侦测器55内。不过,这种排置方式在实际运用上并不必然能够重制出光线入射与散射。
换言之,应将该装置60的测量方法(亦即借由“自除该桌台表面的法线以外的方向上入射的光线”以对“自大致法向于该桌台表面的方向上离出的散射光线”进行计数的测量方法)视为一种是在与实际使用情况有所差异的条件下的测量作业,按光线入射和散射条件的观点亦然。
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