[发明专利]荧光检测方法、荧光微球的制备方法以及荧光微球无效
申请号: | 201180006463.3 | 申请日: | 2011-01-19 |
公开(公告)号: | CN102713576A | 公开(公告)日: | 2012-10-03 |
发明(设计)人: | 林弘能;中田成幸 | 申请(专利权)人: | 三井造船株式会社 |
主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64;G01N15/14;G01N33/483 |
代理公司: | 北京万慧达知识产权代理有限公司 11111 | 代理人: | 杨颖;张一军 |
地址: | 日本国东京都*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 荧光 检测 方法 制备 以及 | ||
1.一种荧光检测方法,利用被荧光色素标识化的荧光微球所发出的荧光识别荧光微球的种类,其特征在于,包括如下步骤:
利用由使荧光强度、荧光波长以及荧光弛豫时间互相不同的多种基本荧光色素的比率和所述基本荧光色素的绝对含有量设成互相不同的多种合成荧光色素标识化的多种荧光微球,在多个波段上分别测量荧光强度和荧光弛豫时间的步骤;
利用已测量的所述荧光强度、所述荧光弛豫时间以及所述波段的信息,识别所测量的荧光微球的种类的步骤。
2.根据权利要求1所述的荧光检测方法,其特征在于,当所述基本荧光色素为两种、所述基本荧光色素的各个荧光强度为F1和F2、荧光弛豫时间为τ1和τ2,所述基本荧光色素的比率为x(x为小于1的正数)和(1-x)、根据所述绝对含有量确定的常数为α1和α2时,所述多种合成荧光色素按照根据下述式(1)确定的合成荧光强度F和根据下述式(2)确定的合成荧光弛豫时间τ相互不同的方式设定所述比率和所述绝对含有量。
F=α1×τ1×x+α2×τ2×(1-x) (1)
τ={α1×τ12×x+α2×τ22×(1-x)}/F (2)
3.根据权利要求1或2所述的荧光检测方法,其特征在于,所述荧光弛豫时间的测量是通过接收由规定频率进行强度调制的激光照射至所述荧光微球时荧光微球所发出的荧光来计算出接收的荧光相对于激光的强度调制的相位滞后角度而进行。
4.根据权利要求3所述的荧光检测方法,其特征在于,
照射至所述荧光微球的激光是不同波长的多个激光的合成光,
在所述多种基本荧光色素的光吸收波段上分别包含所述多个激光的波长的任意一个波长。
5.根据权利要求3或4所述的荧光检测方法,其特征在于,
所述各荧光微球分别包括与特定物质结合的探头,
所述特定物质包含通过所述激光的照射以特定波长发出荧光的荧光色素,
当进行所述荧光强度和所述荧光弛豫时间的测量时,所述特定物质发出的荧光作为相对于所述荧光微球发出的荧光不同的波段的光被接收,并通过计算出荧光强度和荧光弛豫时间来识别所述特定物质。
6.根据权利要求5所述的荧光检测方法,其特征在于,当识别所述荧光微球的种类时,在所述多个波段上分别求出所述特定物质发出的荧光的荧光强度和所述荧光微球发出的荧光的荧光强度之间的荧光强度所相关的散布图,进一步,在所述多个波段上分别求出所述特定物质发出的荧光的荧光弛豫时间和所述荧光微球发出的荧光的荧光弛豫时间之间的荧光弛豫时间所相关的散布图,并利用所述荧光强度所相关的散布图和所述荧光弛豫时间所相关的散布图,特定所述特定物质结合的荧光微球的种类。
7.根据权利要求1至6任一项所述的荧光检测方法,其特征在于,
所述荧光微球分别按照一个一个依次通过激光聚焦的测量点的方式沿着流路流动,
当所述荧光微球通过所述测量点时,进行所述荧光强度和所述荧光弛豫时间的测量。
8.一种荧光微球的制备方法,制备被荧光色素标识化的多种荧光微球,其特征在于,包括如下步骤:
荧光强度、荧光波长以及荧光弛豫时间互相不同的至少两种基本荧光色素的比率和所述基本荧光色素的绝对含有量按照与其它种类的荧光微球之间相互不同的方式设定的步骤;
由利用所设定的所述比率和所述绝对含有量而得到的合成荧光色素对荧光微球进行标识化的步骤。
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