[发明专利]倾斜检测设备和激光测量仪器有效
申请号: | 201180006750.4 | 申请日: | 2011-01-17 |
公开(公告)号: | CN102762953A | 公开(公告)日: | 2012-10-31 |
发明(设计)人: | 阿出川俊和 | 申请(专利权)人: | 株式会社拓普康 |
主分类号: | G01C9/00 | 分类号: | G01C9/00;G01C9/06;G01C15/00 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 蒋骏;李浩 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 倾斜 检测 设备 激光 测量 仪器 | ||
1. 一种倾斜检测设备,包括第一倾斜传感器,用于以高准确度来检测相对于重力方向的倾斜,第二倾斜传感器,用于检测相对于重力方向的倾斜,以及用于以比第一倾斜传感器的准确度更低的准确度和在比第一倾斜传感器的范围更宽的范围中检测倾斜,其中所述第一倾斜传感器和所述第二倾斜传感器彼此相对地被固定,并且由所述第二倾斜传感器通过使用作为参考的如由所述第一倾斜传感器检测的参考位置和检测方向来检测该倾斜。
2. 根据权利要求1的倾斜检测设备,其中所述第二倾斜传感器能被设置在多个小检测范围中,其中倾斜的检测范围彼此部分重叠或连续,以及在所述多个小检测范围之间,由所述第一倾斜传感器设置第一小检测范围的参考,并且所述第二小检测范围的参考是在所述第一小检测范围中获得的预定值,所述第一小检测范围与所述第二小检测范围重叠或连续。
3. 根据权利要求2的倾斜检测设备,进一步包括第三小检测范围,并且在所述第三小检测范围中的参考是在所述第二小检测范围中所检测的检测结果。
4. 根据权利要求1的倾斜检测设备,其中所述第二倾斜传感器能被设置在更大的检测范围和更小的检测范围中,所述更大的检测范围包括由所述第二倾斜传感器可检测的所有倾斜角度范围,所述更小的检测范围是所述更大的检测范围的一部分,且所述更小的检测范围的分辨率被设置成比所述更大的检测范围的分辨率更高的分辨率,以及基于作为参考的在所述更大的检测范围中所检测的检测结果来执行所述更小的检测范围中的倾斜检测。
5. 根据权利要求1倾斜检测设备,包括多个第一倾斜传感器,用彼此不同的倾斜来安装所述多个第一倾斜传感器,以及所述第二倾斜传感器基于由所述第一倾斜传感器之一所检测的参考位置来检测倾斜。
6. 根据权利要求2或权利要求4的倾斜检测设备,其中所述第二倾斜传感器包括倾斜位移传感器、用于放大来自所述倾斜位移传感器的检测信号的放大器、用于在所述放大器上设置参考位置的参考设置器、和用于设置所述放大器的增益的增益设置器,以及其中能根据所检测的倾斜角度来使该参考偏移,并且所述放大器的动态范围与所述预置的更小的检测范围相匹配。
7. 根据权利要求1、2、4或5之一的倾斜检测设备,其中,所述第一倾斜传感器是倾斜传感器,以及所述第二倾斜传感器是加速度传感器。
8. 一种激光测量仪器,包括激光束投射器,具有用于发射激光束的光源和用于将所述激光束以旋转照射进行投射的旋转器,驱动单元,用于使所述激光束投射器倾斜,以及倾斜检测设备,用于检测所述激光束投射器的倾斜,其中所述倾斜检测设备具有第一倾斜传感器和第二倾斜传感器,所述第一倾斜传感器用于以高准确度来检测相对于重力方向的倾斜,所述第二倾斜传感器与所述第一倾斜传感器相对地被固定,用于检测相对于重力方向的倾斜,以及用于以比所述第一倾斜传感器的准确度更低的准确度,在比所述第一倾斜传感器的范围更宽的范围中检测倾斜,以及基于作为参考的由所述第一倾斜传感器检测的参考位置和检测方向来由所述第二倾斜传感器检测该倾斜,以及由所述驱动单元来设置该倾斜。
9. 根据权利要求8的激光测量仪器,其中所述倾斜检测设备相对于所述激光束投射器被可倾斜地安装,由所述第二倾斜传感器基于来自所述第一倾斜传感器检测水平状态的状况的检测结果来将所述检测设备设置成预定倾斜,以及所述激光束投射器被倾斜,使得所述第一倾斜传感器通过所述驱动单元来检测该水平状态,以及设置该倾斜。
10. 根据权利要求8的激光测量仪器,其中所述第一倾斜传感器和所述第二倾斜传感器被安装在所述激光束投射器上,并且所述第一倾斜传感器和所述第二倾斜传感器通过所述激光束投射器来彼此相对地被固定,以及基于来自所述第一倾斜传感器检测水平状态的状况的所述第二倾斜传感器的检测结果来倾斜所述激光束投射器,以及设置该倾斜。
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