[发明专利]倾斜检测设备和激光测量仪器

说明书

技术领域

本发明涉及倾斜检测设备，其可以高准确度来检测水平状态，以及还可按期望检测任意角度。本发明还涉及激光测量仪器，其可通过旋转照射来投射激光束以按期望形成水平面或倾斜面。

背景技术

激光测量仪器被用来通过旋转照射来投射激光束，并形成为建设工程和土木工程所需的参考线或参考平面。为了形成水平参考平面和设置倾斜参考平面的目的，激光测量仪器具有倾斜检测设备。

在过去，激光测量仪器已经是已知的，其可形成水平参考平面并且可形成具有期望的倾斜角度的参考平面，如在专利公开JP-A-2007-132716（专利文献1）中和在专利公开JP-A-2006-308592（专利文献2）中所公开的。

如在专利文献1中所公开的倾斜检测设备是用于以高准确度来检测水平状态的倾斜传感器和用于检测离参考位置的倾斜角度的编码器的组合。该倾斜传感器检测水平状态，以及该编码器以高准确度来检测离水平状态的角度。倾斜传感器以高准确度来检测水平状态以及编码器检测离如由该倾斜传感器所设置的水平状态的角度，并且可检测离该水平状态的任意倾斜角度。

如专利文献2中所公开的倾斜检测设备是用于以高准确度来检测水平状态的倾斜传感器和用于检测相对于重力场的倾斜角度的重力传感器的组合。该水平状态由该倾斜传感器所准确地检测，以及倾斜角度由该重力传感器所直接检测。

通过如专利文献1中所公开的倾斜检测设备，可由编码器以高准确度来检测角度。因此，通过专利文献1中所公开的激光测量仪器，可以高准确度来设置水平参考平面和倾斜参考平面。

然而，在专利文献1中所公开的倾斜检测设备中，存在的问题是，编码器的机制是复杂的，并且需要更高的成本。在如专利文献2中所公开的倾斜检测设备中，能以高准确度来检测水平状态，但通过使用重力传感器来检测倾斜角度，并且该重力传感器具有更低的分辨率（更低的检测准确度）。由于这个缘故，根据专利文献2的倾斜检测设备具有简单的结构，但存在的问题在于，检测倾斜角度的检测准确度是低的。

为克服以上问题，本发明的目的是提供一种倾斜检测设备，其具有简单的结构，并且能以更低的成本来生产，并且其可以更高的准确度来检测倾斜角度。而且，本发明提供了一种以更低成本生产的激光测量仪器，其可通过在该激光测量仪器中采用如以上所描述的倾斜检测设备，来以高准确度设置水平参考平面或倾斜参考平面。

现有技术参考

[专利文件1] JP-A-2007-132716专利公开

[专利文件2] JP-A-2006-308592专利公开。

发明内容

本发明提供了一种倾斜检测设备，包括第一倾斜传感器，用于以高准确度来检测相对于重力方向的倾斜，第二倾斜传感器，用于检测相对重力方向的倾斜，以及用于以比该第一倾斜传感器的准确度更低的准确度和在比该第一倾斜传感器的范围更宽的范围中检测倾斜，其中该第一倾斜传感器和该第二倾斜传感器彼此相对地被固定，以及通过使用作为参考的如由该第一倾斜传感器检测的参考位置和检测方向来由该第二倾斜传感器检测该倾斜。