[发明专利]用于检测物体存在的装置和方法有效

专利信息
申请号: 201180011428.0 申请日: 2011-01-04
公开(公告)号: CN102893185A 公开(公告)日: 2013-01-23
发明(设计)人: 亨里克·克里斯特恩·佩德森;迈克尔·林德·雅各布森;瓦恩·斯蒂恩·格吕纳·汉森 申请(专利权)人: OPDI科技股份有限公司
主分类号: G01V8/14 分类号: G01V8/14;G06F3/042
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 孙志湧;安翔
地址: 丹麦罗*** 国省代码: 丹麦;DK
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摘要:
搜索关键词: 用于 检测 物体 存在 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种装置,用于检测物体在所述装置处的存在,所述装置包括:

光源;

第一重定向结构,所述第一重定向结构包括第一主重定向结构;

第二重定向结构,所述第二重定向结构包括第二主重定向结构;和

光检测装置,

其中,所述光源适于朝所述第一主重定向结构发射光,所述第一主重定向结构适于将来自所述光源的光朝所述第二主重定向结构重定向,所述第二主重定向结构适于使来自所述第一主重定向结构的光朝所述第一主重定向结构返回,并且所述第一主重定向结构适于将来自所述第二主重定向结构的光朝所述光检测装置重定向,并且其中,所述装置具有包括第一感测区的感测区,所述第一感测区由在所述第一主重定向结构和所述第二主重定向结构之间传播的光形成。

2.根据权利要求1所述的装置,其中,所述第二重定向结构包括回射结构。

3.根据权利要求1或2所述的装置,其中,所述第二重定向结构包括平面镜。

4.根据前述权利要求中的任何一项所述的装置,其中,所述光源和所述光检测装置关于所述重定向结构相邻。

5.根据前述权利要求中的任何一项所述的装置,其中,所述第一重定向结构包括第一副重定向结构,并且所述第二重定向结构包括第二副重定向结构,并且其中,所述光源适于朝所述第一副重定向结构发射光,所述第一副重定向结构适于将来自所述光源的光朝所述第二副重定向结构重定向,所述第二副重定向结构适于使来自所述第一副重定向结构的光朝所述第一副重定向结构返回,并且所述第一副重定向结构适于将来自所述第二副重定向结构的光朝所述光检测装置重定向,并且其中,所述感测区包括第二感测区,所述第二感测区由在所述第一副重定向结构和所述第二副重定向结构之间传播的光形成,并且其中,在所述第一副重定向结构和所述第二副重定向结构之间传播的光与在所述第一主重定向结构和所述第二主重定向结构之间传播的光相交,使得所述第一感测区和所述第二感测区互相重叠。

6.根据前述权利要求中的任何一项所述的装置,包括平面波导,所述平面波导适于引导从所述光源朝所述第一重定向结构传播的光,并且适于引导从所述第一重定向结构朝所述光检测装置传播的光,所述平面波导具有第一表面和第二表面。

7.根据权利要求6所述的装置,其中,所述第一重定向结构包括反射结构,所述反射结构具有相对于所述第一表面形成在60°-89°的范围内的角度、诸如在70°-86°的范围内的角度、诸如在76°-82°的范围内的角度的表面。

8.根据权利要求6或7所述的装置,其中,所述平面波导适于在所述第一重定向结构和所述第二重定向结构之间引导光,使得所述第一表面的至少一部分在所述感测区内。

9.根据权利要求8所述的装置,其中,所述平面波导包括紧邻所述第一表面的第一平面波导层和紧邻所述第二表面的第二平面波导层,其中,所述第一波导层适于在所述第一重定向结构和所述第二重定向结构之间引导光,并且其中,所述第二波导层适于引导从所述光源朝所述第一重定向结构传播的光,并且适于引导从所述第一重定向结构朝所述光检测装置传播的光。

10.根据前述权利要求中的任何一项所述的装置,适于使得在所述第一重定向结构和所述第二重定向结构之间传播的光至少部分地在与所述装置交界的诸如空气的介质中传播。

11.根据权利要求8-10中的任何一项所述的装置,其中,所述第一重定向结构适于使得由所述平面波导引导的光在被所述第一重定向结构重定向之后改变相对于所述第一表面的入射角。

12.根据从属于权利要求8的权利要求11所述的装置,其中,所述入射角改变,使得由所述平面波导从所述光源朝所述第一重定向结构引导的光不能被所述物体干扰,并且使得在由所述第一重定向结构重定向之后,重定向的光在由所述平面波导从所述第一重定向结构朝所述第二重定向结构引导时可以被所述物体干扰。

13.根据前述权利要求中的任何一项所述的装置,其中,所述光检测装置的宽度至多是所述第二主重定向结构的宽度的五分之一,诸如,至多是所述第二主重定向结构的宽度的十分之一,诸如,至多是所述第二主重定向结构的宽度的十五分之一。

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