[发明专利]在颗粒分析器中产生脉冲参数

权利要求书

1.一种在颗粒分析器中为颗粒样品产生测量参数的方法，其特征在于，包括：

（a）利用分别沿着探询区域的长度安置的探询器来探询所述颗粒样品，所述探询器包含触发探询器和一个以上的次级探询器；

（b）基于对来自所述颗粒样品的第一颗粒的所述探询，产生各个脉冲，其中，所述脉冲包含与所述触发探询器相对应的触发脉冲以及与所述次级探询器中的一个次级探询器相对应的次级脉冲；

（c）基于所述触发脉冲确定初级脉冲检测窗口；

（d）基于包含所述初级脉冲检测窗口和激光延迟的因素，确定搜索间隔以找到所述次级脉冲；

（e）基于对所述第一颗粒的所述探询，对于激光延迟变化动态地调整所述搜索间隔；

（f）识别所述调整的搜索间隔中的所述次级脉冲；和

（g）处理所述次级脉冲以确定所述次级脉冲的峰值。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，进一步包括：（h）处理所述次级脉冲以确定所述次级脉冲的脉冲宽度值。

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述脉冲宽度值是所述次级脉冲的预定百分比的所述峰值。

4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述调整步骤（e）包含：

基于对所述第一颗粒的所述探询确定调整的大小；和

按所述调整的所述大小的比例，增加所述搜索间隔。

5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述搜索间隔包含次级脉冲检测窗口，所述次级脉冲检测窗口基于包含所述初级脉冲检测窗口和激光延迟的因素被确定，并且其中，所述调整步骤（e）包含：

识别所述次级脉冲在所述次级脉冲检测窗口中的部分；和

扩展所述搜索间隔以包含所述次级脉冲在所述次级脉冲检测窗口之外的部分。

6.如权利要求5所述的方法，其特征在于，所述次级脉冲检测窗口的持续时间基本上等于所述初级脉冲检测窗口的持续时间加上预定的窗口扩展。

7.如权利要求5所述的方法，其特征在于，处理所述次级脉冲步骤（g）包含：

（i）基于所述次级脉冲在所述次级脉冲检测窗口内部的部分，为所述次级脉冲确定最初的峰值；

（ii）以所述最初的峰值的预定阈值检测所述次级脉冲；和

（iii）反复地存储对于所述次级脉冲检测的最高值。

8.如权利要求7所述的方法，其特征在于，在所述次级脉冲的再处理期间执行步骤（ii）-（iii）。

9.如权利要求1所述的方法，其特征在于，确定搜索间隔步骤（d）包含：

对于所述初级脉冲检测窗口确定出现时间；

确定所述触发探询器和所述次级探询器之间的所述激光延迟；和

基于所述初级脉冲检测窗口的出现时间和所述激光延迟，计算对于所述次级脉冲检测窗口的出现时间。

10.如权利要求9所述的方法，其特征在于，基于从所述初级探询器到所述次级探询器的分隔距离以及所述第一颗粒的速度，确定所述激光延迟。

11.如权利要求9所述的方法，其特征在于，所述确定搜索间隔步骤（d）进一步包含：

确定所述初级脉冲检测窗口的持续时间；和

基于所述初级脉冲检测窗口的所述持续时间，设置所述次级脉冲检测窗口的持续时间。

12.如权利要求11所述的方法，其特征在于，所述设置所述次级脉冲检测窗口的所述持续时间进一步基于预定的窗口扩展。

13.如权利要求10所述的方法，其特征在于，从所述初级脉冲检测窗口的所述中心测量所述距离。

14.如权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤（c）包含：

检测所述触发脉冲上的与预定的脉冲阈值相对应的第一和第二位置；和

基于所述第一和第二位置确定所述初级脉冲检测窗口。

15.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述搜索间隔包含次级脉冲检测窗口，所述次级脉冲检测窗口基于包含所述初级脉冲检测窗口和激光延迟的因素被确定，并且其中，所述调整步骤（e）包含：

检测施加于所述第一颗粒的干扰信号的特性；和

基于包含所述初级脉冲检测窗口和所述干扰信号的所述特性的因素，偏移所述次级脉冲检测窗口。