[发明专利]在颗粒分析器中产生脉冲参数有效
申请号: | 201180012921.4 | 申请日: | 2011-03-09 |
公开(公告)号: | CN102792147A | 公开(公告)日: | 2012-11-21 |
发明(设计)人: | 克里斯多佛·D·罗弗斯托姆;丹尼尔·N·福克斯;托马斯·L·思拉舍;大卫·C·尼克尔斯 | 申请(专利权)人: | 贝克曼考尔特公司 |
主分类号: | G01N15/14 | 分类号: | G01N15/14 |
代理公司: | 上海市华诚律师事务所 31210 | 代理人: | 彭里 |
地址: | 美国佛*** | 国省代码: | 美国;US |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 颗粒 分析器 产生 脉冲 参数 | ||
优先权声明
这个专利申请要求在2010年3月10日提交的第61/312,616号美国临时专利申请的优先权,其全部通过参考被结合在此。
技术领域
这个发明涉及使用颗粒分析器的颗粒样品的分析。
背景技术
颗粒分析器使得颗粒样品的快速分析能够检测样品的各种特性以及检测单个颗粒的特性。一些颗粒分析器还包含根据一个以上的检测特性来对颗粒进行分类的功能。
诸如流式细胞仪和血液学分析器的颗粒分析器经常用于分析诸如血液或组织的生物细胞样品。在流式细胞仪中,细胞样品在沿着样品的流路的探询区域中经受探询。典型地,鞘液中的细胞一个一个地通过流动池,其中,它们被包含一个以上的光束的探针探询。例如,一个以上的激光源可以沿着细胞流的流动的通道位于流动池中。在其他流式细胞仪中,诸如在喷气式流式细胞仪中,鞘液中的细胞被流动池外的一个以上的探针探询。用于每个经过的细胞产生一些测量数据。当细胞通过探询区域时,通过检测器来测量诸如光散射、光损失和荧光的结果的光特性。测量的光特性用于对于每个受探询的细胞产生相应的电脉冲。分析该电脉冲,以确定诸如脉冲峰值、脉冲宽度和脉冲区域的细胞的参数。分类流式细胞仪例如可以将不同类型的细胞分类到容器中。
在被探询之前,可以使用各种荧光染料和/或试剂来制备细胞样品以标记特殊的细胞类型。每种荧光染料和/或试剂可以约定不同类型的细胞。当细胞通过探询区域时,激光源激发荧光染料和/或试剂。通过增加可以检测的不同荧光染料和/或试剂的数目,可以对于细胞类型的增加范围的存在分析细胞样品。然而,例如每个激光源可能仅仅激发限定波长范围之内的荧光染料。因此,理想的是,使用多个激光源,以便能够实现较宽的波长和频率的范围的检测。
但是,如果光源之间的距离过小,那么沿着细胞流的流路安置的多个激光源可能导致增加的重合和溢出。重合,即,在检测窗口之内的一个以上颗粒的检测,导致来自分析样品的受影响的颗粒的异常。溢出,即,由相邻的光源产生的光响应的检测,导致由于补偿溢出作用的需要而引起的低效率。因此,为了避免增加的重合和溢出,以彼此之间具有实质距离的方式安置激光源。通过增加多个激光源之间的距离,可以通过减少重合和溢出来提高颗粒分析器的效率。光源之间增加的距离还能够实现颗粒大小的范围的分析,从而更加增加了颗粒分析器的实用性。然而,增加激光源之间的距离导致出乎意料的发现,该发现是当激光源之间的距离增加时,对于颗粒产生的参数常常是不准确的。
因此,希望提高在利用多个光源的颗粒分析器中产生的参数的准确度。
发明内容
本发明针对颗粒分析器数据的分析。在一个实施例中,一种在颗粒分析器中为颗粒样品产生测量参数的方法,包括:利用分别沿着探询区域的长度安置的探询器来探询所述颗粒样品,所述探询器包含触发探询器和一个以上的次级探询器;基于对来自所述颗粒样品的第一细胞的所述探询,产生各个脉冲,其中,所述脉冲包含与所述触发探询器相对应的触发脉冲以及与所述次级探询器中的一个次级探询器相对应的次级脉冲;基于所述触发脉冲确定初级脉冲检测窗口;基于包含所述初级脉冲检测窗口和激光延迟的因素,确定搜索间隔以找到所述次级脉冲;基于对所述第一颗粒的所述探询,对于激光延迟变化动态地调整所述搜索间隔;识别所述调整的搜索间隔中的所述次级脉冲;和处理所述次级脉冲以确定所述次级脉冲的峰值。
在另一个实施例中,一种在颗粒分析器中为颗粒样品产生测量参数的方法,包括:利用分别沿着探询区域的长度安置的探询器来探询所述颗粒样品,所述探询器包含触发探询器和一个以上的次级探询器;基于对来自所述颗粒样品的第一细胞的所述探询,产生各个脉冲,其中,所述脉冲包含与所述触发探询器相对应的触发脉冲以及与所述次级探询器中的一个次级探询器相对应的次级脉冲;基于所述触发脉冲确定初级脉冲检测窗口;基于包含所述初级脉冲检测窗口和激光延迟的因素,确定次级脉冲检测窗口;检测施加于所述第一颗粒的干扰信号的特性;基于干扰信号的特性,偏移所述次级脉冲检测窗口;识别所述调整的搜索间隔中的所述次级脉冲;和处理所述次级脉冲以确定所述次级脉冲的测量参数。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于贝克曼考尔特公司,未经贝克曼考尔特公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201180012921.4/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。