[发明专利]用于控制用于轮胎生产的半完成元件的沉积的方法和装置

权利要求书

1.一种控制用于轮胎生产的半完成元件的沉积的方法，所述方法包括：

-将第一射线（R1）发送到被加工轮胎（1）的至少一个部件上，所述部件（3）至少部分地形成有多个半完成元件（4），所述半完成元件限定所述被加工轮胎（1）的径向外层（5）；

-接收来自所述被加工轮胎（1）的径向外表面的对应的第一反射射线（R1’）；

-根据至少所述第一反射射线（R1’）确定代表所述径向外层（5）的厚度的一个或多个参数（P）；

-将所述一个或多个参数（P）与对应的参照值（REF1、REF2）进行比较；

-根据所述比较产生警告信号（S）。

2.如在权利要求1中所述的方法，其中，所述第一反射射线（R1’）代表在所述被加工轮胎（1）的所述径向外表面与所述反射射线（R1’）的接收点之间的距离。

3.如在权利要求1或2中所述的方法，其中，所述一个或多个参数（P）包括代表所述半完成元件（4）的相互重叠的第一参数（P1）。

4.如在权利要求3中所述的方法，其中，确定所述一个或多个参数（P）包括：

-确定代表所述径向外层（5）的厚度的多个值（V1）；

-将所述值（V1）与第一阈值（TH1）进行比较；

-确定有多少所述值（V1）高于所述第一阈值（TH1）。

5.如在权利要求1或4中所述的方法，其中，用于所述第一参数（P1）的第一参照值（REF1）代表与半完成元件（4）沿着成型支承件（2）的周向延伸部测量的长度的至少1/3相等的长度。

6.如在权利要求5中所述的方法，其中，用于所述第一参数（P1）的第一参照值（REF1）代表与半完成元件（4）沿着所述成型支承件（2）的周向延伸部测量的长度的至少1/2相等的长度。

7.如在前述权利要求中任一项所述的方法，其中，所述一个或多个参数（P）包括代表所述半完成元件（4）缺少相互重叠的第二参数（P2）。

8.如在权利要求7中所述的方法，其中，确定所述一个或多个参数（P）包括：

-确定代表所述径向外层（5）的厚度的多个值（V2）；

-将所述值（V2）与第二阈值（TH2）进行比较；

-确定有多少所述值（V2）低于所述第二阈值（TH2）。

9.如在权利要求1或8中所述的方法，其中，用于所述第二参数（P2）的第二参照值（REF2）代表与半完成元件（4）沿着所述成型支承件（2）的周向延伸部测量的长度的至少1/3相等的长度。

10.如在权利要求9中所述的方法，其中，用于所述第二参数（P2）的第二参照值（REF2）代表与半完成元件（4）沿着所述成型支承件（2）的周向延伸部测量的长度的至少1/2相等的长度。

11.如在权利要求4至6或8至10中任一项所述的方法，其中，确定代表所述径向外层（5）的厚度的所述多个值（V1、V2）包括：在所述被加工轮胎（1）的多个周向位置（CP）处确定所述径向外层（5）的厚度。

12.如在权利要求11中所述的方法，其中，所述周向位置（CP）中的至少一部分属于所述成型支承件（2）的轴向中线平面（X1）。

13.如在权利要求11或12中所述的方法，其中，所述第一射线（R1）包括在时间上连续地指向所述被加工轮胎（1）的所述周向位置（CP）上的至少一个射线束（F1）。

14.如在权利要求11至13中任一项所述的方法，其中，所述周向位置（CP）中的一部分属于基本平行于所述轴向中线平面（X1）的一对辅助平面（X2、X3），所述辅助平面（X2、X3）中的每一个插置在所述成型支承件（2）的所述轴向中线平面（X1）与相应的轴向端部（2a、2b）之间。

15.如在权利要求14中所述的方法，其中，所述辅助平面（X2、X3）位于关于所述轴向中线平面（X1）基本对称的位置。

16.如在权利要求15或16中所述的方法，其中，所述第一射线（R1）还包括在时间上连续地指向属于所述辅助平面（X2、X3）的位置上的一对辅助射线束（F2、F3）。