[发明专利]用于将电子器件放到输入介质和输出介质的隔室中的方法和排布系统有效
申请号: | 201180032660.2 | 申请日: | 2011-03-30 |
公开(公告)号: | CN102960084A | 公开(公告)日: | 2013-03-06 |
发明(设计)人: | B·万吉伯根;J·韦尔默朗;C·特鲁耶恩斯;E·德布洛克;B·阿库 | 申请(专利权)人: | 克拉-坦科股份有限公司 |
主分类号: | H05K13/04 | 分类号: | H05K13/04;H05K13/02;G01B11/03 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 刘佳 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 电子器件 放到 输入 介质 输出 中的 方法 排布 系统 | ||
1.一种用于将电子器件放入一输入介质的隔室中的方法,所述方法包括下列步骤:
通过至少一个检查设备,对N个实际已知位置进行成像,其中,所述N个已知位置形成于所述输入介质的上侧,并且N大于或等于2;
在分配给所述输入介质的坐标系中,从所述N个已知位置的图像中,确定所述N个已知位置的实际位置数据;
从所述N个已知位置的实际位置数据中,并且还从所述N个已知位置的给定目标位置数据中,计算所述N个已知位置中的每一个的实际差别位置数据;
从所述输入介质的隔室的给定目标位置数据中,并且还从所述N个已知位置的实际差别位置数据中,计算所述输入介质的隔室的实际位置数据;以及
基于所述输入介质的隔室的实际位置数据,控制一拾取和放置设备。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,
根据在计算所述输入介质的隔室的实际位置数据的步骤期间或之后计算出的输入介质的隔室的实际位置数据,来更新所述输入介质的隔室的目标位置数据。
3.如权利要求1所述的方法,其特征在于,
所述N个已知位置的目标位置数据以及所述输入介质的隔室的目标位置数据是能够在计算机辅助设计(CAD)数据模型中获得的。
4.如权利要求1所述的方法,其特征在于,
所述拾取和放置设备从所述输入介质的相应的至少一个隔室中拾取至少一个电子器件并且将所述至少一个电子器件转移到一输出介质的相应的至少一个隔室并且将所述至少一个电子器件放入所述输出介质的相应的至少一个隔室中,其中,所述输出介质的相应的至少一个隔室的实际位置数据被传送到所述拾取和放置设备。
5.如权利要求4所述的方法,其特征在于,
至少两个电子器件被同时从所述输入介质的各个隔室中并行地拾起来,并且同时被并行地转移到且被并行地放入所述输出介质的各个隔室中。
6.如权利要求4所述的方法,其特征在于,
所述输出介质的隔室的实际位置是通过下列步骤被确定的:
通过至少一个检查设备,对M个已知位置进行成像,其中,所述M个已知位置形成于所述输出介质的上侧,并且M大于或等于2;
在分配给所述输出介质的坐标系中,从所述M个已知位置的图像中,确定所述M个已知位置的实际位置数据;
从所述M个已知位置的实际位置数据中,并且还从所述M个已知位置的给定目标位置数据中,计算所述M个已知位置中的每一个的实际差别位置数据;
从所述输出介质的隔室的给定目标位置数据中,并且还从所述M个已知位置的实际差别位置数据中,计算所述输出介质的隔室的实际位置数据;以及
基于所述输出介质的隔室的实际位置数据,来控制所述拾取和放置设备。
7.如权利要求4所述的方法,还包括如下步骤:
在将所述电子器件放入所述输出介质的隔室中之前,测量所述输出介质并且自动地调整输出介质布局。
8.如权利要求7所述的方法,其特征在于,
通过在所述输出介质上提供一模板并且进行检查以确定所述模板在所述输出介质上的精确位置,来执行自动地调整转移布局的步骤。
9.如权利要求6所述的方法,还包括如下步骤:
在将所述电子器件放入所述输出介质的隔室中之前,测量所述输出介质并且自动地调整所述输出介质的转移位置。
10.一种用于放置多个电子器件的排布系统,包括:
至少一个检查设备,用于对一输入介质上的N个实际已知位置进行成像,N大于或等于2;
移动装置,用于提供在所述至少一个检查设备与所述输入介质之间的相对运动,以便将所述N个已知位置中的至少一个放入所述至少一个检查设备的成像视场中;
至少一个拾取和放置设备,用于从所述输入介质的相应的至少一个隔室中拾取至少一个电子器件;以及
控制单元,用于确定所述输入介质的隔室的实际位置数据,并且还用于控制所述至少一个拾取和放置设备,使得所述电子器件被从所述输入介质的隔室中正确地拾起来。
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