[发明专利]放射线检测装置

权利要求书

1.一种放射线检测装置，具备具有固定能够检测放射线的多个半导体元件的基板的边缘导通型的放射线检测器，其特征在于，

所述多个半导体元件的各个在所述放射线入射的面具有多个元件内像素区域，

在俯视中规定X方向、和与所述X方向正交的Y方向的情况下，以多个所述放射线检测器各自的所述基板成为平行的配置沿着所述X方向排列多个所述放射线检测器，

多个所述放射线检测器的各个在所述基板的一个面以及另一个面的各个中具有在所述Y方向排列的所述多个半导体元件，

将隔着所述基板而设置的所述半导体元件之间的距离设为XG1、将从一个所述放射线检测器的所述半导体元件到与该半导体元件相对置且与所述一个放射线检测器相邻接的其它的放射线检测器的所述半导体元件为止的距离设为XG2，

将在所述Y方向排列的所述半导体元件之间的距离设为YG1，

将所述放射线检测器所使用的规定的像素间距的横间距设为a、纵间距设为b、所述多个半导体元件各自的放射线入射的面的宽度设为c、长度设为d、所述多个半导体元件各自的所述多个元件内像素区域中的、位于所述多个半导体元件各自的两端部的元件内像素区域的长度分别设为e、被位于所述多个半导体元件各自的两端部的元件内像素区域夹住的多个元件内像素区域的各自的长度设为f的情况下，满足如下关系：

c=a-（XG1+XG2）/2

d=b-YG1=2e+（n-2）f

e=b/n-YG1/2

f＝b/n，其中，n为正的整数。

2.根据权利要求1所述的放射线检测装置，其特征在于，

在将能够设置在放射线检测器上的匹配准直器的隔板宽度设为Cd的情况下，满足如下关系：

Cd≥XG1

Cd≥XG2。

3.根据权利要求1所述的放射线检测装置，其特征在于，

满足XG1=XG2的关系。

4.根据权利要求1所述的放射线检测装置，其特征在于，

满足XG1=XG2=YG1的关系。

5.根据权利要求1所述的放射线检测装置，其特征在于，

所述多个半导体元件的各个在与所述放射线入射的面垂直的一个面具有（n-1）个槽、并且在所述多个槽之间、以及所述一个面的相反侧的面具有电极，由此构成n个所述元件内像素区域。

6.根据权利要求1所述的放射线检测装置，其特征在于，

所述多个半导体元件的各个在所述基板的一个面以及另一个面将所述基板设置为对称面。