[发明专利]电接触件和测试平台在审
申请号: | 201180037759.1 | 申请日: | 2011-09-01 |
公开(公告)号: | CN103026555A | 公开(公告)日: | 2013-04-03 |
发明(设计)人: | 庄建益;张锡海 | 申请(专利权)人: | 伊斯梅卡半导体控股公司 |
主分类号: | H01R13/24 | 分类号: | H01R13/24;G01R1/04;G01R27/14;H01R13/405 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 马永利;李浩 |
地址: | 瑞士拉*** | 国省代码: | 瑞士;CH |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 接触 测试 平台 | ||
1.一种电接触件,其包括三个或更多个叶片从而促进通过部件的电接触件建立所述三个或更多个叶片的至少两个之间的电连接。
2.根据权利要求1的电接触件,其中所述三个或更多个叶片纵向地延伸。
3.根据权利要求1或2的电接触件,其中所述三个或更多个叶片平行布置。
4.根据任一前述权利要求的电接触件,其中所述三个或更多个叶片的一些或全部包括平面的表面。
5.根据权利要求4的电接触件,其中该平面的表面配置成使得它平行于电气部件的平面,该电气部件能与电接触件协作操作。
6.根据任一前述权利要求的电接触件,其中所述三个或更多个叶片布置成定义两个或更多个隔离沟道,所述沟道配置成使每个所述三个或更多个叶片彼此电隔离。
7.根据权利要求6的电接触件,其中每个所述三个或更多个叶片的宽度为使得所述两个或更多个隔离沟道中的两个的组合宽度加上单个叶片的宽度小于电气部件的电接触件的宽度。
8.根据任一前述权利要求的电接触件,其中所述叶片的一些或全部可包括金、贵金属、BeNi或BeCu中的至少一种。
9.根据任一前述权利要求的电接触件,其中所述叶片的一些或全部包括钨。
10.根据任一前述权利要求的电接触件,其中该电接触件还包括保持构件,该保持构件保持所述三个或更多个叶片使得它们相对于彼此处于固定位置。
11.一种适合于接收待测试电气部件的测试平台,其中该测试平台包括一个或多个根据权利要求1-10中任意一项的电接触件。
12.根据权利要求11的测试平台,其中所述一个或多个电接触件的至少一些布置在同一取向。
13.一种测试机器部件,包括保持器构件,该保持器构件包括至少一个根据权利要求1-10中任意一项的电接触件的任何一个,其中该测试机器部件配置成使得它能够与该测试机器协作。
14.根据权利要求13的测试机器部件,其中该测试机器包括多个根据权利要求1-10中任意一项的电接触件。
15.根据权利要求13或14的测试机器部件,还包括引导装置,该引导装置配置成促进该测试机器部件与该测试机器的协作。
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