[发明专利]电接触件和测试平台

说明书

技术领域

本发明涉及电接触件和测试平台，具体地但不排他地涉及用于测试电气部件的电接触件和测试平台。

背景技术

现有的测试电气部件的方法涉及将待测试部件定位在测试平台上。测试平台包括用于对电气部件供电的电接触件。一旦被供电，电气部件的性能被监测。基于电气部件的性能，可以确定电气部件是否有故障。

为了确保成功测试电气部件，要求部件的电接触件与测试平台上的电接触件电连接。因此该电气部件必须以特定的预定义取向定位在非常特定的预定义位置。以所述特定的预定义取向在测试平台上将电气部件地位在这种特定的预定义位置，这非常难以实现，特别是在其中测试操作高速实施并且存在许多运动中的机器零件的工业环境中。由于电气部件之间的物理变化，定位电气部件变得更加困难，例如由于制造阶段的模具偏移的原因而会发生电气部件之间的物理变化。

图1a-f说明实现为了确保电气部件7的电接触件与测试平台1上的电接触件电连接所要求的电气部件7的特定定位会有多么困难。图1所示测试平台1包括六个电学开尔文(Kelvin)接触件3a-3f。每个电学开尔文接触件3a-3f包括“I”叶片5a和相对的“L”叶片5b。在电气部件7的测试期间，“I”叶片5a形成信号供应端子并且相对的“L”叶片5b形成信号感测端子(或者反之亦然)。

待测试电气部件7包括销9a-f形式的六个电接触件。为了使能实现电气部件7的测试，电气部件7必须定位在平台1上，使得每个销9a-f建立测试平台1上的每个相应电接触件3a-3f中的“I”叶片5a和相对的“L”叶片5b之间的电连接。在电气部件7的测试期间，在每个电接触件3a-3f处，测试信号由“I”叶片5a(即形成信号供应端子的叶片)传输，通过销9a-f，并且被传输到相对的“L”叶片5b(即形成信号感测端子的叶片)中。在每个信号感测端子处，测试信号被感测以确定销9a-f是否按预期传输和/或改变测试信号。在每个所述六个销9a-f处电气部件7的性能因此可以被确定。

图1(a)示出当位于用于测试所要求的特定的预定义位置和取向时的电气部件7。在此位置，每个销9a-f建立测试平台1上的每个相应电接触件3a-3f中的“I”叶片5a和相对的“L”叶片5b之间的电连接。在该位置，电气部件7可以如前所述被测试。

图1(b)示出沿着Y轴在第一方向被偏移的电气部件7。在此位置，每个所述销9a-f未能建立测试平台1上的每个电接触件3a-3f中的“I”叶片5a和相对的“L”叶片5b之间的电连接。因而，电气部件7无法被测试。

图1(c)示出沿着Y轴在第二方向被偏移的电气部件7。在此位置，销9a-f未能建立测试平台1上的每个相应电接触件3a-3f中的“I”叶片5a和相对的“L”叶片5b之间的电连接。因而，电气部件7无法被测试。

图1(d)示出沿着X轴在第一方向被偏移的电气部件7。在该位置，销9a、9b和9c未能建立测试平台1上的电接触件3a、3b和3c中的“I”叶片5a和相对的“L”叶片5b之间的电连接。因而，电气部件7无法被测试。

图1(e)示出沿着X轴在第二方向被偏移的电气部件7。在该位置，销9c、9d和9f未能建立测试平台1上的电接触件3d、3e和3f中的“I”叶片5a和相对的“L”叶片5b之间的电连接。因而，电气部件7无法被测试。

图1(f)示出电气部件7，该电气部件7未以正确取向定位在平台1上；电气部件7相对于平台1被旋转。在此位置，销9c和9d未能建立测试平台1上的电接触件3c和3d中的“I”叶片5a和相对的“L”叶片5b之间的电连接。因而，电气部件7无法被测试。

已经采取许多措施，通过电气部件7的电接触件，促进测试平台1上的电接触件3a-f中的叶片5a、5b之间的电连接的建立。在图2(a)-2(f)中说明一种这样的措施。不同于图1(a)-1(f)中说明的平台1，图2中说明的平台10包括六个电接触件30a-30f，其中每个电接触件30a-30f包括两个平行的“I”叶片50a、50b。每个叶片50a、50b具有纵向配置，并且包括平面的表面51，当芯片7定位在平台10上用于测试时，该平面的表面51平行于芯片7的平面52。