[发明专利]薄层封装、具有薄层封装的光电子半导体本体和用于制造薄层封装的方法有效

专利信息
申请号: 201180043513.5 申请日: 2011-08-16
公开(公告)号: CN103109384A 公开(公告)日: 2013-05-15
发明(设计)人: 弗朗茨·埃伯哈德;塞巴斯蒂安·特格尔;科比尼安·佩尔茨尔迈尔 申请(专利权)人: 欧司朗光电半导体有限公司
主分类号: H01L33/40 分类号: H01L33/40
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 张春水;田军锋
地址: 德国雷*** 国省代码: 德国;DE
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摘要:
搜索关键词: 薄层 封装 具有 光电子 半导体 本体 用于 制造 方法
【权利要求书】:

1.用于光电子半导体本体的薄层封装(11),具有:

-借助于PVD法沉积的PVD层(6),和

-借助于CVD法沉积的CVD层(10)。

2.根据上一项权利要求所述的薄层封装(11),其中所述PVD层(6)和所述CVD层(10)构成共同的边界面。

3.根据上一项权利要求所述的薄层封装(11),其中所述PVD层(6)构成为是导电的。

4.根据上述权利要求之一所述的薄层封装(11),其中所述PVD层(6)的厚度位于50nm和400nm之间,其中包括边界值。

5.根据上述权利要求之一所述的薄层封装(11),其中所述PVD层(6)具有下述材料中的一种:钛、钨、钛钨、氮化钛、氮化钨、钛钨氮化物、铂、镍、金、钽。

6.根据上述权利要求之一所述的薄层封装(11),其中所述CVD层(10)的厚度位于2nm和20nm之间,其中包括边界值。

7.根据上述权利要求之一所述的薄层封装(11),其中所述CVD层(10)具有下述材料中的一种:硅、氧化硅、氮化硅、氮化钛。

8.根据上述权利要求之一所述的薄层封装(11),所述薄层封装具有多个交替设置的CVD层(10)和PVD层(6,13)。

9.根据上述权利要求之一所述的薄层封装(11),其中

-所述CVD层(10)直接地施加在所述PVD层(6)上,并且

-对所述CVD层(10)进行回蚀,使得所述CVD层(10)仅填充在所述PVD层(6)中的薄弱部位。

10.根据上一项权利要求所述的薄层封装(11),其中在回蚀的所述CVD层(10)上设置借助于PVD法沉积的另一PVD层(13)。

11.根据权利要求9至10之一所述的薄层封装(11),其中所述CVD层(10)具有电绝缘的材料。

12.具有根据上述权利要求之一所述的薄层封装(11)的光电子半导体本体,所述薄层封装对所述半导体本体的金属元件进行封装。

13.根据上一项权利要求所述的光电子半导体本体,其中所述金属元件是电接触部或反射层(4)。

14.根据权利要求12至13之一所述的光电子半导体本体,其中所述金属元件具有下述材料中的一种:银、铝、金、钛、镍。

15.用于制造薄层封装(11)的方法,具有以下步骤:

-借助于PVD法沉积PVD层(6),和

-借助于CVD法沉积CVD层(10)。

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