[发明专利]薄层封装、具有薄层封装的光电子半导体本体和用于制造薄层封装的方法有效
申请号: | 201180043513.5 | 申请日: | 2011-08-16 |
公开(公告)号: | CN103109384A | 公开(公告)日: | 2013-05-15 |
发明(设计)人: | 弗朗茨·埃伯哈德;塞巴斯蒂安·特格尔;科比尼安·佩尔茨尔迈尔 | 申请(专利权)人: | 欧司朗光电半导体有限公司 |
主分类号: | H01L33/40 | 分类号: | H01L33/40 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 张春水;田军锋 |
地址: | 德国雷*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 薄层 封装 具有 光电子 半导体 本体 用于 制造 方法 | ||
1.用于光电子半导体本体的薄层封装(11),具有:
-借助于PVD法沉积的PVD层(6),和
-借助于CVD法沉积的CVD层(10)。
2.根据上一项权利要求所述的薄层封装(11),其中所述PVD层(6)和所述CVD层(10)构成共同的边界面。
3.根据上一项权利要求所述的薄层封装(11),其中所述PVD层(6)构成为是导电的。
4.根据上述权利要求之一所述的薄层封装(11),其中所述PVD层(6)的厚度位于50nm和400nm之间,其中包括边界值。
5.根据上述权利要求之一所述的薄层封装(11),其中所述PVD层(6)具有下述材料中的一种:钛、钨、钛钨、氮化钛、氮化钨、钛钨氮化物、铂、镍、金、钽。
6.根据上述权利要求之一所述的薄层封装(11),其中所述CVD层(10)的厚度位于2nm和20nm之间,其中包括边界值。
7.根据上述权利要求之一所述的薄层封装(11),其中所述CVD层(10)具有下述材料中的一种:硅、氧化硅、氮化硅、氮化钛。
8.根据上述权利要求之一所述的薄层封装(11),所述薄层封装具有多个交替设置的CVD层(10)和PVD层(6,13)。
9.根据上述权利要求之一所述的薄层封装(11),其中
-所述CVD层(10)直接地施加在所述PVD层(6)上,并且
-对所述CVD层(10)进行回蚀,使得所述CVD层(10)仅填充在所述PVD层(6)中的薄弱部位。
10.根据上一项权利要求所述的薄层封装(11),其中在回蚀的所述CVD层(10)上设置借助于PVD法沉积的另一PVD层(13)。
11.根据权利要求9至10之一所述的薄层封装(11),其中所述CVD层(10)具有电绝缘的材料。
12.具有根据上述权利要求之一所述的薄层封装(11)的光电子半导体本体,所述薄层封装对所述半导体本体的金属元件进行封装。
13.根据上一项权利要求所述的光电子半导体本体,其中所述金属元件是电接触部或反射层(4)。
14.根据权利要求12至13之一所述的光电子半导体本体,其中所述金属元件具有下述材料中的一种:银、铝、金、钛、镍。
15.用于制造薄层封装(11)的方法,具有以下步骤:
-借助于PVD法沉积PVD层(6),和
-借助于CVD法沉积CVD层(10)。
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