[发明专利]透明导电性膜、其制造方法、电子装置用部件及电子装置有效
申请号: | 201180049693.8 | 申请日: | 2011-10-13 |
公开(公告)号: | CN103262175B | 公开(公告)日: | 2017-03-29 |
发明(设计)人: | 永元公市;近藤健;永绳智史 | 申请(专利权)人: | 琳得科株式会社 |
主分类号: | H01B1/08 | 分类号: | H01B1/08;H01L31/0224;H01L31/0392;H01L31/18 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司72001 | 代理人: | 蔡晓菡,李炳爱 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 透明 导电性 制造 方法 电子 装置 部件 | ||
1.透明导电性膜,其特征在于,其为具有基材层、阻气层和透明导电体层的透明导电性膜,
所述阻气层由包含硅原子、氧原子和碳原子的材料构成,该阻气层的表层部中的硅原子、氧原子和碳原子的含量是,在XPS的元素分析测定中,相对于硅原子、氧原子和碳原子的合计100原子%,硅原子的含量为18.0%以上且28.0%以下,氧原子的含量为48.0%以上且66.0%以下,碳原子的含量为10.0%以上且28.0%以下,并且,
透明导电性膜在40℃、相对湿度90%气氛下的水蒸气透过率为6.0g/m2/天以下,波长550nm下的可见光总光线透过率为90%以上。
2.根据权利要求1所述的透明导电性膜,其特征在于,所述阻气层是向包含4官能有机硅烷化合物的水解·脱水缩合物的层注入离子而得到的层。
3.根据权利要求2所述的透明导电性膜,其特征在于,所述离子是选自氢、氧、氮、氩、氦、氙、氪、硅化合物和烃中的至少一种气体被离子化而成的。
4.根据权利要求1所述的透明导电性膜,其特征在于,所述阻气层是通过等离子体离子注入法向包含4官能有机硅烷化合物的水解·脱水缩合物的层注入离子而得到的层。
5.根据权利要求2~4中任一项所述的透明导电性膜,其特征在于,所述4官能有机硅烷化合物为四(C1~C10)烷氧基硅烷。
6.根据权利要求1所述的透明导电性膜,其中,所述透明导电体层由导电性金属氧化物形成。
7.根据权利要求6所述的透明导电性膜,其特征在于,所述导电性金属氧化物为锌系氧化物。
8.权利要求2~7中任一项所述的透明导电性膜的制造方法,其具有下述工序:向表面形成有包含4官能有机硅烷化合物的水解·脱水缩合物的层的成型物的、所述包含4官能有机硅烷化合物的水解·脱水缩合化合物的层,注入离子的工序。
9.根据权利要求8所述的透明导电性膜的制造方法,其特征在于,所述离子是选自氢、氧、氮、氩、氦、氙、氪、硅化合物和烃中的至少一种气体被离子化而成的。
10.根据权利要求8所述的透明导电性膜的制造方法,其特征在于,注入离子的工序为通过等离子体离子注入法注入离子的工序。
11.电子装置用部件,其包含权利要求1~7中任一项所述的透明导电性膜。
12.电子装置,其具备权利要求11所述的电子装置用部件。
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