[发明专利]透明导电性膜、其制造方法、电子装置用部件及电子装置有效

专利信息
申请号: 201180049693.8 申请日: 2011-10-13
公开(公告)号: CN103262175B 公开(公告)日: 2017-03-29
发明(设计)人: 永元公市;近藤健;永绳智史 申请(专利权)人: 琳得科株式会社
主分类号: H01B1/08 分类号: H01B1/08;H01L31/0224;H01L31/0392;H01L31/18
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司72001 代理人: 蔡晓菡,李炳爱
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 透明 导电性 制造 方法 电子 装置 部件
【权利要求书】:

1.透明导电性膜,其特征在于,其为具有基材层、阻气层和透明导电体层的透明导电性膜,

所述阻气层由包含硅原子、氧原子和碳原子的材料构成,该阻气层的表层部中的硅原子、氧原子和碳原子的含量是,在XPS的元素分析测定中,相对于硅原子、氧原子和碳原子的合计100原子%,硅原子的含量为18.0%以上且28.0%以下,氧原子的含量为48.0%以上且66.0%以下,碳原子的含量为10.0%以上且28.0%以下,并且,

透明导电性膜在40℃、相对湿度90%气氛下的水蒸气透过率为6.0g/m2/天以下,波长550nm下的可见光总光线透过率为90%以上。

2.根据权利要求1所述的透明导电性膜,其特征在于,所述阻气层是向包含4官能有机硅烷化合物的水解·脱水缩合物的层注入离子而得到的层。

3.根据权利要求2所述的透明导电性膜,其特征在于,所述离子是选自氢、氧、氮、氩、氦、氙、氪、硅化合物和烃中的至少一种气体被离子化而成的。

4.根据权利要求1所述的透明导电性膜,其特征在于,所述阻气层是通过等离子体离子注入法向包含4官能有机硅烷化合物的水解·脱水缩合物的层注入离子而得到的层。

5.根据权利要求2~4中任一项所述的透明导电性膜,其特征在于,所述4官能有机硅烷化合物为四(C1~C10)烷氧基硅烷。

6.根据权利要求1所述的透明导电性膜,其中,所述透明导电体层由导电性金属氧化物形成。

7.根据权利要求6所述的透明导电性膜,其特征在于,所述导电性金属氧化物为锌系氧化物。

8.权利要求2~7中任一项所述的透明导电性膜的制造方法,其具有下述工序:向表面形成有包含4官能有机硅烷化合物的水解·脱水缩合物的层的成型物的、所述包含4官能有机硅烷化合物的水解·脱水缩合化合物的层,注入离子的工序。

9.根据权利要求8所述的透明导电性膜的制造方法,其特征在于,所述离子是选自氢、氧、氮、氩、氦、氙、氪、硅化合物和烃中的至少一种气体被离子化而成的。

10.根据权利要求8所述的透明导电性膜的制造方法,其特征在于,注入离子的工序为通过等离子体离子注入法注入离子的工序。

11.电子装置用部件,其包含权利要求1~7中任一项所述的透明导电性膜。

12.电子装置,其具备权利要求11所述的电子装置用部件。

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