[发明专利]MS/MS型质谱分析装置及该装置用程序

权利要求书

1.一种MS/MS型质谱分析装置，包括：

第一质量分离部，挑选各种离子中的具有特定质荷比的离子作为前体离子；

离子开裂部，使所述前体离子开裂；

第二质量分离部，挑选因开裂而产生的各种产物离子中的具有特定质荷比的离子；

检测器，对所述第二质量分离部所挑选的产物离子进行检测；以及

控制部，对所述第一质量分离部、所述离子开裂部、所述第二质量分离部、及所述检测器进行控制并执行分析，对因执行分析而产生的数据进行解析，

所述MS/MS型质谱分析装置的特征在于：

所述控制部包括

a)事件准备部，针对某种成分的前体离子，准备使离子开裂部及第二质量分离部中的至少一个部分的条件发生变化的产物离子扫描事件、及不使条件发生变化的产物离子扫描事件中的多个产物离子扫描事件；

b)事件执行部，执行已准备的多个产物离子扫描事件；以及

c)检测部，从已执行的全部的产物离子扫描事件所产生的全部的质谱中，检测出出现频率最高的质量峰值。

2.一种MS/MS型质谱分析装置，包括：

第一质量分离部，挑选各种离子中的具有特定质荷比的离子作为前体离子；

离子开裂部，使所述前体离子开裂；

第二质量分离部，挑选因开裂而产生的各种产物离子中的具有特定质荷比的离子；

检测器，对所述第二质量分离部所挑选的产物离子进行检测；以及

控制部，对所述第一质量分离部、所述离子开裂部、所述第二质量分离部、及所述检测器进行控制并执行分析，对因执行分析而产生的数据进行解析，

所述MS/MS型质谱分析装置的特征在于：

所述控制部包括

a)事件准备部，针对某种成分的前体离子，准备使离子开裂部及第二质量分离部中的至少一个部分的条件发生变化的产物离子扫描事件、及不使条件发生变化的产物离子扫描事件中的多个产物离子扫描事件；

b)事件执行部，执行已准备的多个产物离子扫描事件；以及

c)检测部，取得已执行的全部的产物离子扫描事件所产生的全部的质谱的加算值或平均值，并检测出所述加算值或平均值中最强的质量峰值。

3.根据权利要求2所述的MS/MS型质谱分析装置，其特征在于：

所述检测部对各质谱进行加权，并检测出进行了所述加权的加算值/平均值中最强的质量峰值。

4.一种MS/MS型质谱分析装置用程序，其是MS/MS型质谱分析装置用的程序，所述MS/MS型质谱分析装置包括：

第一质量分离部，挑选各种离子中的具有特定质荷比的离子作为前体离子；

离子开裂部，使所述前体离子开裂；

第二质量分离部，挑选因开裂而产生的各种产物离子中的具有特定质荷比的离子；

检测器，对所述第二质量分离部所挑选的产物离子进行检测；以及

控制部，包括电脑，对所述第一质量分离部、所述离子开裂部、所述第二质量分离部、及所述检测器进行控制并执行分析，对因执行分析而产生的数据进行解析，

所述MS/MS型质谱分析装置用程序的特征在于：

使所述电脑作为a)事件准备部、b)事件执行部、以及c)检测部而发挥功能，

所述a)事件准备部准备使离子开裂部及第二质量分离部中的至少一个部分的条件发生变化的产物离子扫描事件、及不使条件发生变化的产物离子扫描事件中的多个产物离子扫描事件，

所述b)事件执行部执行已准备的多个产物离子扫描事件，

所述c)检测部从已执行的全部的产物离子扫描事件所产生的全部的质谱中，检测出出现频率最高的质量峰值。