[发明专利]MS/MS型质谱分析装置及该装置用程序

说明书

技术领域

本发明涉及MS/MS型质谱分析装置及该装置中所使用的程序(program)，所述MS/MS型质谱分析装置借由碰撞诱导解离(CID＝Collision-Induced Dissociation)来使具有特定质荷比(m/z)的离子(ion)开裂，对借此产生的产物离子(product ion)(碎片离子(fragment ion))进行质谱分析。

背景技术

为了对分子量大的物质进行鉴定，或为了对该物质的构造进行解析，MS/MS分析(也称为串联(tandem)分析)这一方法已作为质谱分析的一个方法而为人所知。作为典型的MS/MS型质谱分析装置，已有三重四极杆(Triple Quadrupole，TQ)型质谱分析装置。图2是专利文献1等所揭示的一般的三重四极杆型质谱分析装置的概略构成图。

所述质谱分析装置在由未图示的真空泵(vacuum pump)进行真空排气的分析室1的内部，包括：离子源2，使作为分析对象的试料离子化；三段的四极杆3、5、6，分别包含四根杆电极(rod electrode)；以及检测器7，对离子进行检测，并将对应于离子量的检测信号予以输出。将对直流电压与高频电压进行合成所得的电压施加至第一段四极杆3，利用借此产生的电场的作用，仅挑选出离子源2所产生的各种离子中的具有特定质荷比的目标离子作为前体离子(precursor ion)。

第二段四极杆5收纳在密闭性高的撞池(collision cell)4内。例如将氩(Ar)等CID气体导入至所述撞池4内。从第一段四极杆3输送至第二段四极杆5的前体离子在撞池4内与CID气体发生碰撞，因碰撞诱导解离而开裂，从而产生产物离子。所述开裂的形态为各种形态，因此，通常会由一种前体离子产生质荷比不同的多种产物离子。所述各种产物离子离开撞池4，并被导入至第三段四极杆6。通常，仅将高频电压施加至第二段四极杆5，或将如下的电压施加至第二段四极杆5，该电压是直流偏置电压(bias voltage)与高频电压相加所得的电压，所述第二段四极杆5作为离子引导器(ion guide)而发挥功能，该离子引导器一面使离子聚敛，一面将离子输送至后段。

与第一段四极杆3同样地，将对直流电压与高频电压进行合成所得的电压施加至第三段四极杆6。利用借此产生的电场的作用，在第三段四极杆6中仅挑选出具有特定质荷比的产物离子，接着该产物离子到达检测器7。适当地使施加至第三段四极杆6的直流电压及高频电压发生变化，借此，可扫描(产物离子扫描(product ion scan))出能够通过第三段四极杆6的离子的质荷比。在此情况下，未图示的数据(data)处理部可基于检测器7所获得的检测信号，制成因目标离子开裂而产生的产物离子的质谱(mass spectrum)(MS/MS色谱)。此外，也可执行前体离子扫描(precursor ion scan)或中性丢失扫描(neutral loss scan)等，所述前体离子扫描检索产生特定的产物离子的全部的前体离子，所述中性丢失扫描检索特定的部分构造已脱离的全部的前体离子。

另外，在使用了所述MS/MS型质谱分析装置作为液相色谱仪(Liquid Chromatograph，LC)或气相色谱仪(Gas Chromatograph，GC)的检测器的LC/MS/MS、GC/MS/MS等装置中，为了对试料中所含的多种成分进行同时分析(simultaneous analysis)(鉴定及定量)，经常使用被称为多反应监测(Multiple Reaction Monitoring，MRM)的方法。在MRM测定中，预先决定针对各成分而由第一段四极杆3挑选的一种或多种前体离子的质荷比、及针对各前体离子而由第三段四极杆6挑选、测定的一种或多种产物离子的质荷比。试料中所含的多种成分在前段的LC或GC中会随着时间而被分离，因此，根据各成分的洗提时间(保持时间)，分别改换所述规定的前体离子与产物离子的质荷比的组合，借此，可高精度且高感度地求出源于各成分的离子的信号强度，并可高精度、高感度地对试料进行定量测定。

为了利用MRM测定来进行高精度、高感度的分析，重要的是针对各成分而正确地选择前体离子与产物离子。其中，只要选择针对各成分而决定的前体离子即可，但产物离子会根据从前体离子产生(开裂)时的形态而发生变化，因此，必须预先决定对所述产物离子产生影响的各种参数(parameter)(例如施加至各四极杆的直流电压、交流电压等)的最佳值。

以往，利用如下所述的方法来自动选择所述最佳值。