[发明专利]清纱器和用于清纱的方法

权利要求书

1.一种清纱器，包括：

测量头（40），其具有用于检测纱线（90）的特性的电容测量单元（5）和光学测量单元（6），两个测量单元（5，6）沿着纱线（90）的路径在纵向方向（91）上彼此相邻地设置，

评估单元（45），其用于将所检测到的纱线特性与预定质量标准进行比较，以及

切割器装置（10），其用于在收到来自评估单元（45）的切割命令时切割所述纱线（90），

其特征在于

所述电容测量单元（5）适用于检测纱线质量的变化，而所述光学测量单元（6）适用于检测纱线直径的变化，

所述评估单元（45）适用于当由电容测量单元（5）检测到的纱线直径变化和/或由光学测量单元（6）检测到的纱线质量变化不符合预定的质量标准时，输出不均匀切割命令，

所述电容测量单元（5）和所述光学测量单元（6）两者都适用于检测在纱线（90）中的异物，以及

所述评估单元（45）适用于当由电容测量单元（5）检测到的异物含量和/或由光学测量单元（6）检测到的异物含量不符合预定的质量标准时，输出异物切割命令。

2.根据权利要求1所述的清纱器，还包括：输入单元（46），其允许操作者输入是否由电容测量单元（5）检测到的纱线质量变化或由光学测量单元（6）检测到的纱线直径变化或由两个变化触发不均匀切割命令。

3.根据前述权利要求任何一项所述的清纱器，还包括：输入单元（46），其允许操作员输入是否由电容测量单元（5）检测到的异物含量或由光学测量单元（6）检测到的异物含量或由两个异物含量触发异物切割命令。

4.根据权利要求1所述的清纱器，还包括：比较单元（41），其用于将由电容测量单元（5）检测到的纱线质量变化与由光学测量单元（6）检测到的纱线直径变化进行比较，以及用于基于该比较自动确定是否由电容测量单元（5）检测到的纱线质量变化或由光学测量单元（6）检测到的纱线直径变化或由两个变化触发不均匀切割命令。

5.根据权利要求1或4所述的清纱器，还包括：比较单元（42），其用于将由电容测量单元（5）检测到的异物含量与光学测量单元（6）检测到的异物含量进行比较，并用于基于该比较自动确定是否由电容测量单元（5）检测到的异物含量或由光学测量单元（6）检测到的异物含量或由两个异物含量触发异物切割命令。

6.根据前述权利要求任何一项所述的清纱器，其中所述测量头（40）还包括信号处理单元（53，54，63，64），用于预处理来自测量单元（5，6）、评估单元（45）和切割器装置（10）的信号。

7.根据前述权利要求中任何一项所述的清纱器，其中光学测量单元（6）包括光源（10），至少一个用于检测由所述纱线（90）透射的光的光检测器（32），以及至少一个用于检测由所述纱线（90）反射的光的光检测器（33，34）。

8.根据权利要求7所述的清纱器，其中所述光源（10）是发光二极管，并且存在用于检测由所述纱线（90）透射的光的一个单个的光检测器（32），用于检测由所述纱线（90）反射的光的两个光检测器（33，34）。

9.一种用于清纱（90）的方法，其中，

纱线（90）的特性由具有电容测量单元（5）和光学测量单元（6）的测量头（40）检测，两个测量单元（5，6）沿着纱线（90）的路径在纵向方向（91）上彼此相邻地设置，

将所检测到的纱线特性与预定的质量标准进行比较，以及

如果所检测到的纱线特性不符合预定的质量标准，则切割纱线（90）；

其特征在于

纱线的质量变化由电容测量单元（5）检测和/或纱线的直径变化由光学测量单元（5）检测，

如果由电容测量单元（5）检测到的纱线直径变化和/或由光学测量单元（6）检测到的纱线质量变化不符合预定的质量标准时，则切割所述纱线，

在纱线（90）中的异物含量由电容测量单元（5）和/或光学测量单元（6）检测，以及

如果由电容测量单元（5）检测到的异物含量和/或由光学测量单元（6）检测到的异物含量不符合预定的质量标准时，则切割所述纱线（90）。

10.根据权利要求9所述的方法，其中，操作者输入是否由电容测量单元（5）检测到的纱线质量变化或由光学测量单元（6）检测到的纱线直径变化或由两个变化触发不均匀切割。