[发明专利]用于测试LCD面板的薄膜和测试装置及该装置的制造方法

权利要求书

1.一种用于测试液晶显示面板的测试装置，所述测试装置包括:

薄膜，所述薄膜设置成在其上具有多条第一线与多条第二线，其中所述第一线接收多个测试信号，且所述第二线与所述第一线分开设置，所述第二线将自所述第一线接收的所述测试信号分支为n个测试信号(n为自然数)并将被分支的测试信号传送至液晶显示面板的对应的多条输入线;

线路连接单元，所述线路连接单元设置成在基板上形成并包括多条金属线以将经由所述第一线接收的所述测试信号传送至各自对应的所述第二线;以及

多个凸块，所述凸块设置成将所述第一线与所述第二线电性连接至对应的所述金属线。

2.如权利要求1所述的测试装置，其中所述第一线与所述第二线的每条在所述薄膜的第一表面上形成。

3.如权利要求1所述的测试装置，其中形成与所述测试信号的数量相等数量的第一线，且第二线的数量是所述第一线的数量的n倍。

4.如权利要求1所述的测试装置，其中形成与所述第一线的数量相等数量的金属线。

5.如权利要求1所述的测试装置，其中所述金属线的每条设置成形成具有四个侧边依次连接的闭合矩形，各个第一线连接至各自对应的金属线的一侧边，且各个第二线连接至各自对应的金属线的另一侧边。

6.如权利要求5所述的测试装置，其中所述金属线的所述另一侧边与所述金属线的所述一侧边相对。

7.如权利要求5所述的测试装置，其中与所述测试信号的第一测试信号对应的第一金属线位于最外侧，除了所述第一金属线以外的其他金属线位于所述第一金属线的内侧，且随着所述第一金属线至所述其他每条金属线的距离的增加，所述其他每条金属线的四个侧边的长度之和减小。

8.如权利要求5所述的测试装置，其中与所述测试信号的第一测试信号对应的第一金属线位于最内侧，除了所述第一金属线以外的其他金属线位于所述第一金属线的外侧，且随着所述第一金属线至所述其他每条金属线的距离的增加，所述其他每条金属线的四个侧边的长度之和增加。

9.如权利要求1所述的测试装置，其中所述第一线的每条连接至所述另一侧边。

10.如权利要求1所述的测试装置，其中所述金属线的每条设置成形成一侧边具有切口的矩形的形状，所述第一线连接至各自对应的所述金属线的一侧边，且所述第二线连接至各自对应的金属线的另一侧边。

11.如权利要求10所述的测试装置，其中所述金属线的每条设置成形成另一侧边具有切口的矩形的形状。

12.如权利要求1所述的测试装置，其中所述第一线的每条相对于对应的测试信号而被分支成x条(x为自然数)。

13.如权利要求12所述的测试装置，其中所述线路连接单元还设置成包括x个次线路连接单元。

14.如权利要求12所述的测试装置，其中自连接至所述x个次线路连接单元的所述第二线分别输出的所述测试信号被施加给多个液晶显示面板。

15.如权利要求12所述的测试装置，其中自连接至所述x个次线路连接单元的所述第二线分别输出的所述测试信号被施加给一个液晶显示面板。

16.如权利要求1所述的测试装置，其中自所述第一线接收的所述测试信号是用于驱动液晶显示面板的包括R、G、B、R`、G`和B`的六种色彩信号。

17.如权利要求1所述的测试装置，还包括:

多个探针，所述探针设置成将自所述第二线传送的被分支的所述测试信号电性连接至液晶显示面板的对应的输入线。

18.如权利要求1所述的测试装置，其中所述第二线直接地连接至液晶显示面板的各自对应的输入线。

19.一种制造用于测试液晶显示面板的测试装置的方法，所述方法包括:

在基板上形成多条第一线、多条第二线以及多条金属线，其中所述第一线接收多个测试信号，所述第二线与所述第一线分开设置，所述第二线将自所述第一线接收的所述测试信号分支为n个测试信号(n为自然数)，并将被分支的测试信号传送至液晶显示面板的对应的多条输入线，且所述金属线经由多个凸块电性连接至所述第一线与所述第二线中的每条;

通过在所述基板与所述金属线上施加绝缘材料形成绝缘层;

在所述绝缘层上蚀刻出多个焊垫区，借此所述凸块将与所述金属线接合;

在所述焊垫区形成所述凸块;以及

在所述薄膜上将所述凸块与各条所述第一线及所述第二线接合。