[发明专利]用于测试LCD面板的薄膜和测试装置及该装置的制造方法有效
申请号: | 201180051554.9 | 申请日: | 2011-10-19 |
公开(公告)号: | CN103189790A | 公开(公告)日: | 2013-07-03 |
发明(设计)人: | 任利彬;许南重;赵濬秀 | 申请(专利权)人: | 普罗-2000有限公司 |
主分类号: | G02F1/1345 | 分类号: | G02F1/1345;G02F1/13 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人: | 王玉双 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 测试 lcd 面板 薄膜 装置 制造 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种用于测试液晶显示(LCD)面板的薄膜、一种用于测试LCD面板的测试装置以及制造该测试装置的方法,更具体的涉及能够减少制造工序与成本的一种用于测试LCD面板的薄膜、一种用于测试LCD面板的测试装置以及制造该测试装置的方法。
背景技术
随着显示装置在各个领域中的使用的增加,对于装配在显示装置上的液晶显示面板以及用于测试LCD面板的方法的研究一直活跃地进行着。经过缺陷检测的正常的液晶面板具有安装于其上的模块,并且能够被用于例如电视、监视器等的显示装置。
图l是描述现有技术的用于测试LCD面板的测试装置的实例的图。图2是描述图1所述的测试装置的平面图的图。
参照图1和图2,现有技术的测试装置TD包括驱动单元DRV及探针单元PRB,其中驱动单元DRV包括驱动IC DIC以接收柔性印刷电路板FPC所施加的测试信号,并将接收的测试信号转换为用于驱动LCD面板PAN的模拟电压,而探针单元PRB将转换为模拟电压的测试信号传送至与探针单元PRB接触的LCD面板PAN的输入线PILIN。驱动单元DRV可以是TAB IC,并且探针单元PRB可以是针型或刀片型(blade-type)探针。TAB IC表示以薄膜的形式封装的驱动IC DIC。作为电子信号的测试信号自柔性印刷电路板FPC经由设置在薄膜FIL上的第一线LINl被接收并被传送至驱动单元DRV,且驱动单元DRV将转换为模拟电压的测试信号经由设置在薄膜FIL上的第二线LIN2传送至探针单元PRB。
图3是描述另一现有技术的用于测试LCD面板的测试装置的图,且图4是描述图1所示的测试装置的平面图。
参照图3和图4,现有技术的测试装置TD的驱动单元DRV不包括独立的驱动IC,而是直接接收来自柔性印刷电路板FPC的图像信号(模拟电压)作为测试信号用于驱动LCD面板PAN,将接收的图像信号复制成测试LCD面板PAN所需要的数量的信号,并将这些复制的信号传送至LCD面板PAN。
图3和图4特别地示出驱动单元DRV自柔性印刷电路板FPC接收六种图像信号的例子。六种图像信号可以是驱动LCD面板PAN所需的包括R、G、B、R`、G`和B`的色彩信号。图3和图4所示的驱动单元DRV具有一线结构,能够递归地(recursively)输出从柔性印刷电路板FPC接收的六种测试信号TET。
不同于图1和图2所示的测试装置,图3和图4所示的测试装置TD难于测试LCD面板PAN上的关于特定图案的缺陷,但是通过对整个LCD面板PAN施加相同的颜色可适于测试缺陷单元。
图5是示出在薄膜上形成的线结构的示意图,所述薄膜用于图3和图4所示的测试装置。
参照图5,第一线LIN1在作为绝缘体的薄膜的第一表面上形成,而第二线LIN2在薄膜的第二表面上形成。第一线LIN1可接收来自柔性印刷电路板FPC的测试信号,而第二线LIN2可将经由第一线接收的测试信号传送至对应的LCD面板PAN的输入线。在此情况下,经由孔洞VIA,第一线LINl与第二线LIN2可彼此电性连接。但是,如图5所示,随着在薄膜两面均形成有线的薄膜FIL上线的间距变小且线的数量增加,将增加工艺的复杂度与制造成本。
发明内容
技术问题
本发明提供一种用于测试液晶显示(LCD)面板的薄膜、用于测试LCD面板的测试装置以及制造所述测试装置的方法,所述方法能够简化制造可双面使用的薄膜(reversible film)的高成本的工艺,因此降低制造成本。
解决方案
本发明提供用一种于测试液晶显示(LCD)面板的测试装置,所述测试装置包括:薄膜,所述薄膜设置成在其上具有多条第一线与多条第二线,其中所述第一线接收多个测试信号,且所述第二线与所述第一线分开设置,所述第二线将自所述第一线接收的所述测试信号分支为n个测试信号(n为自然数)并将被分支的测试信号传送至液晶显示面板的对应的多条输入线;线路连接单元,所述线路连接单元设置成在基板上形成并包括多条金属线以将经由所述第一线接收的所述测试信号传送至各自对应的所述第二线;以及多个凸块(Bump),所述凸块设置成将所述第一线与所述第二线电性连接至对应的所述金属线。
所述第一线与所述第二线的每条可在所述薄膜的第一表面上形成。可形成与所述测试信号的数量相等数量的第一线,且第二线的数量可以是所述第一线的数量的n倍。可形成与所述第一线的数量相等数量的金属线。
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