[发明专利]自动分析装置有效
申请号: | 201180053411.1 | 申请日: | 2011-10-17 |
公开(公告)号: | CN103189750A | 公开(公告)日: | 2013-07-03 |
发明(设计)人: | 神原久美子;三村智宪 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立高新技术 |
主分类号: | G01N35/00 | 分类号: | G01N35/00;G01N35/02 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 刘建 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 自动 分析 装置 | ||
1.一种自动分析装置,其将试剂与试样混合并对试样进行分析,其特征在于,其具备:
存储单元,该存储单元针对所使用的试剂的试剂信息,存储由分析项目决定的固定参数信息和因试剂的制造批次而各异且是评价试样的测定结果所必需的变动参数;以及
控制部,该控制部使用存储于上述存储单元的固定参数信息以及变动参数信息,对试样与试剂的混合以及试样的分析动作进行控制。
2.一种自动分析装置,其将试剂与试样混合并对试样进行分析,其特征在于,其具备:
试剂信息读取单元,该试剂信息读取单元读取显示在收容试剂的试剂容器上的试剂信息;
存储单元,该存储单元对试剂信息进行存储;以及
控制单元,该控制单元对上述试剂信息读取单元的动作和试样与试剂的混合及试样的分析动作进行控制,并且针对由上述试剂信息读取单元读取的试剂信息,算出由分析项目决定的固定参数信息和值因试剂的制造批次而各异且是评价试样测定结果所必需的变动参数,并存储于上述存储单元。
3.根据权利要求2所述的自动分析装置,其特征在于,
上述变动参数信息相对于表示固定参数信息的一个固定参数表,具有与多个试剂制造批次对应的多个变动参数表。
4.根据权利要求3所述的自动分析装置,其特征在于,
对于存储在上述存储单元中的变动参数,当存储单元所存储的期间经过一定期间时,上述控制单元从上述存储单元中删除上述变动参数。
5.根据权利要求3所述的自动分析装置,其特征在于,
上述变动参数信息中包含直线性检查值、前带检查值、反应极限吸光度、技术极限、与校准的测定结果的检查相关的第一标准液吸光度、偏差允许吸光度、灵敏度允许吸光度、汇集允许吸光度、以及由校准的方法、反应过程近似法得到的评价因素中的至少一个。
6.根据权利要求3所述的自动分析装置,其特征在于,
上述控制单元针对各试剂制造批次与校准实施时机描绘上述变动参数信息中的、与校准的检查相关的第一标准液吸光度、偏差允许吸光度、灵敏度允许吸光度、汇集允许吸光度等允许值和在实施校准时得到的上述检查值的输出值,并对试剂的品质、装置状态的经时变化进行管理。
7.根据权利要求3所述的自动分析装置,其特征在于,
具有信息显示单元,上述控制单元针对各试剂批次与校准实施时机描绘上述变动参数信息中的、与校准的检查相关的第一标准液吸光度、偏差允许吸光度、灵敏度允许吸光度、汇集允许吸光度等允许值和在实施校准时得到的上述检查值的输出值,并在上述信息显示单元中进行显示。
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