[发明专利]质量分析装置及质量分析方法

说明书

技术领域

本发明涉及质量分析装置及质量分析方法。

背景技术

质量分析装置是对试料分子附加电荷来进行离子化，通过电场或者磁场，使生成的离子根据质荷比而进行分离，并通过检测器将其量作为电流值而进行计测的设备。质量分析装置具有高灵敏度，与现有的分析装置相比，在定量性以及辨识能力上性能优良。近年来，在生命科学领域中，取代染色体组解析而关注肽解析、代谢物解析，关于在这些的解析中的辨识/定量能力优良的质量分析装置的有效性，正被进行再评价。

在质量分析装置中，当试料分子中的构成成分复杂的情况下，尤其是质荷比为400以下的质量谱中较多地存在来自溶媒中、环境中的夹杂物的情况下，为了将目标成分与夹杂物进行区别的目的而实施MSⁿ分析。

MSⁿ分析是指，将使试料分子离子化后的分子离子取入到质量分析装置中并使其收敛，从其中选择特定的质荷比的分子离子(离子选择)，通过使所选择的分子离子(目标离子)和中性分子碰撞，来破坏分子离子(目标离子)的一部分的结合(碰撞引发离解(CID：Collision Induced Dissociation))，对结合被切断的分子离子(碎片离子：fragment ion)进行测定的方法。

该MSⁿ分析的碰撞引发离解中，因碰撞时的碎片离子的动能的减少，随着离子速度的减少而会产生速度分布的增宽，因此，在对多个试料分子进行测定时，出现在后的结果中残留在前的结果这样所谓的发生串扰的情况。在发生串扰时，将产生不需要的构造信息显示、定量正确度降低等问题。为了解决该串扰，提出了使引起碰撞引发离解的碰撞室产生轴电场(参照专利文献1、2)。在专利文献1、2中，通过在碎片离子的行进方向(轴向)生成直流电场(加速电压)，辅助地使碎片离子加速，使在实施碰撞引发离解的碰撞室内的滞留时间变短。

在先技术文献

专利文献

专利文献1：JP特开2007-95702号公报

专利文献2：JP特表平11-510946号公报

发明内容

(发明所要解决的课题)

但是，专利文献1、2的发明中，在沿着分子离子的行进方向(轴向)生成直流电场(加速电压)时，会在相对于分子离子的行进方向的正交方向也产生电位差(加速电压)。因此，在增大行进方向的直流电场时，正交方向的电位差(加速电压)也变大，从而存在超过使分子离子收敛的拟似阱型势能进而消失这样的情况。

即，若为了解决所述串扰而在分子离子的行进方向生成直流电场(加速电压)，则存在产生不能进行计测的分子离子这样的所谓的质量窗口变狭窄的问题。

因此，本发明所要解决的课题是提供一种即使为了解决串扰而在分子离子的行进方向生成直流电场，也能使质量窗口宽的质量分析装置以及质量分析方法。

(用于解决课题的手段)

本发明的质量分析装置的特征在于，具备：碰撞室，其具有线形多极电极，对所述线形多极电极间叠加施加碰撞交流电压与第1直流电压，使分子离子与中性分子发生碰撞，进行所述分子离子的碰撞引发离解来生成碎片离子，并在按照每一所述线形多极电极而分割的前级电极与后级电极之间施加第2直流电压，使所述碎片离子在沿着所述线形多极电极的方向上进行加速；质量分析部，其根据质荷比，对在所述碰撞室中加速后的所述碎片离子进行质量分离；和控制部，其按照与所述碎片离子的质荷比无关地使所述碰撞室内的所述碎片离子的速度成为相等的方式，基于由所述质量分析部选择的所述碎片离子的质荷比来决定所述第2直流电压。另外，本发明的质量分析方法的特征在于是由该质量分析装置所实施的质量分析方法。

(发明效果)

根据本发明，即使为了解决串扰而在分子离子的行进方向生成直流电场，也能提供质量窗口宽的质量分析装置以及质量分析方法。

附图说明

图1是本发明的第1实施方式所涉及的质量分析装置的构成图。

图2(a)是包含本发明的第1实施方式所涉及的质量分析装置的控制部和电源的构成图，图2(b)是表示沿着质量分析装置的轴向的电位的曲线图。

图3是设于本发明的第1实施方式所涉及的质量分析装置的碰撞室的线形多极(multi-pole)电极的连接图。

图4是表示相对于分子离子的质量数的拟似势能深度的曲线图。

图5是表示相对于碎片离子的质量数的、透过碰撞室的碎片离子的质量数的范围(质量窗口)的曲线图。