[发明专利]分光光度计无效
申请号: | 201180054895.1 | 申请日: | 2011-11-14 |
公开(公告)号: | CN103221802A | 公开(公告)日: | 2013-07-24 |
发明(设计)人: | 松井繁;山村周平;秋山秀之;江畠佳定 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立高新技术 |
主分类号: | G01N21/27 | 分类号: | G01N21/27;G01J3/02;G01J3/36 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 许静;郭凤麟 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 分光 光度计 | ||
1.一种分光光度计,其特征在于,
具备:光源;
试样池;
多色仪,其通过将来自上述光源的光中的透过上述试样池的光分光为多个波长成分,来生成上述试样池内的试样的透过光谱;
图像传感器,其检测上述试样的透过光谱;
光源监视用光检测器,其检测来自上述光源的光中的没有透过上述试样池的光;以及
运算部,其使用上述光源监视用光检测器的输出信号修正上述试样的透过光谱,
上述运算部通过将上述透过光谱除以修正系数来对其进行修正,该修正系数表示根据上述光源监视用光检测器的输出信号求出的光源的光量变动。
2.根据权利要求1所述的分光光度计,其特征在于,
在将时刻t=0以及t=ti(i=1,2,3,…)的上述光源的发光强度分别设为H(0)、H(ti),将时刻t=ti(i=1,2,3,…)的试样的透过光谱设为S(λ,ti)(λ表示波长)时,上述运算部通过下述的式1求出修正后的透过光谱S’(λ,ti)。
S’(λ,ti)=S(λ,ti)/(H(ti)/H(0)) 式1
3.根据权利要求1所述的分光光度计,其特征在于,
在时刻t=0,上述试样池中不存在分析对象的试样的状态下,通过上述多色仪取得参照用透过光谱,并使用该参照用透过光谱修正时刻t=ti(i=1,2,3,…)的上述试样的透过光谱S(λ,ti)(λ表示波长)。
4.根据权利要求1中所述的分光光度计,其特征在于,
设有用于将来自上述光源的光中的没有透过上述试样池的光导入上述光源监视用光检测器的光纤。
5.根据权利要求1所述的分光光度计,其特征在于,
将上述图像传感器的像素中的一部分作为上述光源监视用光检测器使用,将其他部分作为用于检测上述试样的透过光谱的光检测器使用。
6.根据权利要求5所述的分光光度计,其特征在于,
在上述图像传感器的像素中的作为上述光源监视用光检测器使用的像素区域和用于检测上述试样的透过光谱的像素区域之间,设置有不检测光的像素区域。
7.根据权利要求1所述的分光光度计,其特征在于,
上述运算部通过对上述透过光谱进行对数变换来求出吸收光谱,并通过将该吸收光谱减去修正系数来对其进行修正,该修正系数表示根据上述光源监视用光检测器的输出信号的对数变换值求出的光源的光量变动。
8.根据权利要求1中所述的分光光度计,其特征在于,
上述光源具有发光的波长区域互不相同的第1及第2光源,
在将时刻t=0以及t=ti(i=1,2,3,…)的上述第1光源的发光强度分别设为H(0)、H(ti),将时刻t=0以及t=ti的上述第2光源的发光强度分别设为D(0)、D(ti),将时刻t=ti(i=1,2,3,…)的试样的透过光谱设为S(λ,ti)(λ表示波长)时,上述运算部通过下述的式2求出修正后的透过光谱S’(λ,ti)。
S’(λ,ti)=S(λ,ti)/β=S(λ,ti)/{(H(ti)+D(ti))/(H(0)+D(0))} 式2
9.根据权利要求8所述的分光光度计,其特征在于,
上述第1光源为可视区用卤素灯,上述第2光源为紫外区用氘放电灯。
10.一种分光光度计,其特征在于,
具备:发光的波长区域互不相同的第1及第2光源;
试样池;
检测光学系统,其根据来自上述第1及第2光源的光中的透过上述试样池的光生成上述试样池内的试样的透过光谱;
光源监视光学系统,其检测来自上述第1及第2光源的光中的没有透过上述试样池的光;以及
运算部,其使用来自上述光源监视光学系统的输出信号修正上述试样的透过光谱,
上述运算部通过将上述透过光谱除以修正系数来对其进行修正,该修正系数表示根据上述光源监视光学系统的输出信号求出的光源的光量变动。
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