[发明专利]分光光度计

说明书

技术领域

本发明涉及测量试样的透过光谱或吸收光谱的分光光度计，尤其涉及单光束方式的分光光度计。

背景技术

以往，作为测定透过光谱或吸收光谱的分光光度计，已知所谓双光束方式的分光光度计。在双光束方式的分光光度计中，通过设置试样池和参照池两个池，测量通过各池的光的光量，并求出其比值从而得到透过光谱。此外，通过对透过光谱的纵轴进行对数变换，从而得到吸收光谱。在双光束方式的分光光度计中，由于同时测量试样池用光束和参照池用光束，因此具有即使光源的光量随时间变动，也能得到试样的准确透过光谱的优点。

在日本特开昭59-230124号公报及日本特开昭63-198832号公报中，记载了使用图像传感器的双光束方式的分光光度计的例子。使用图像传感器的双光束方式的分光光度计存在构造复杂化、体积增大、制造成本增大的问题。因此，在装配有图像传感器的分光光度计中，一般采用单光束方式。

在日本特开平11-108830号公报中，记载了通过色散元件对来自光源的光进行波长色散，并通过阵列式光检测元件对其进行检测的单光束方式的吸光度测定器。

并且，在日本特开昭61-53527号公报中，记载了搭载有紫外区用氘放电管和可视区用卤素灯2种光源的分光光度计。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开昭59-230124号公报

专利文献2：日本特开昭63-198832号公报

专利文献3：日本特开平11-108830号公报

专利文献4：日本特开昭61-53527号公报

发明内容

发明所要解决的课题

单光束方式的分光光度计具有构造简单、体积小、制造成本低等优点。但是，当光源的光量随时间变动时，单光束方式的分光光度计难以得到试样的准确透过光谱。

本发明的目的在于，在单光束方式的分光光度计中，即使光源的光量随时间变动，也能得到高S/N且能长时间抑制漂移的高稳定透过光谱及吸收光谱。

用于解决课题的手段

根据本发明，分光光度计具备：光源；试样池；多色仪，其通过将来自上述光源的光中的透过上述试样池的光分光为多个波长成分，来生成上述试样池内的试样的透过光谱；图像传感器，其检测上述试样的透过光谱；光源监视用光检测器，其检测来自上述光源的光中的没有透过上述试样池的光；以及运算部，其使用上述光源监视用光检测器的输出信号修正上述试样的透过光谱。

上述运算部通过用上述透过光谱除以根据上述光源监视用光检测器的输出信号求出的修正系数来对其进行修正。

发明效果

根据本发明，在单光束方式的分光光度计中，即使光源的发光强度随时间变动，也能得到高S/N且能长时间抑制漂移的高稳定透过光谱及吸收光谱。

附图说明

图1是表示根据本发明的分光光度计的第1例的结构的附图。

图2是对卤素灯和氘放电灯的发光强度的波长光谱的例子进行说明的图。

图3是对卤素灯和氘放电灯的发光强度的时间变动进行说明的图。

图4A是对卤素灯和氘放电灯的发光强度的时间变动进行说明的另一图。

图4B是对卤素灯和氘放电灯的发光强度的时间变动进行说明的又一图。

图5是表示根据本发明的分光光度计的第2例的结构的图。

图6是将本发明的分光光度计的第2例的一部分放大后的图。

具体实施方式

参照图1，对本发明的分光光度计的第1例进行说明。本示例的分光光度计具有第1及第2光源1,2、试样池5、检测光学系统、检测光学系统运算部、光源监视光学系统、光源监视系统运算部以及计算机17。检测光学系统具有分色镜3、成像透镜7、多色仪10以及一维图像传感器12。也可以使用二维图像传感器代替一维图像传感器12。检测光学系统运算部具有放大器15及A/D转换器16。

光源监视光学系统具有第1及第2光纤21A,21B、第1及第2透镜23A,23B以及第1及第2光源监视用光检测器24A,24B。光纤21A,21B也可以为光纤束。光源监视光学系统运算部具有第1及第2放大器25A,25B以及A/D转换器26。