[发明专利]光学传感器以及图像形成设备有效
申请号: | 201180056270.9 | 申请日: | 2011-11-25 |
公开(公告)号: | CN103221803A | 公开(公告)日: | 2013-07-24 |
发明(设计)人: | 大场义浩;菅原悟;石井稔浩;星文和 | 申请(专利权)人: | 株式会社理光 |
主分类号: | G01N21/47 | 分类号: | G01N21/47;G01B11/06;G01B11/30;G01N21/21;G01N21/57;G03G15/00 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 郭定辉 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光学 传感器 以及 图像 形成 设备 | ||
1.一种光学传感器,包括:
光发射系统,配置为将第一偏振方向上的线性偏振的辐射光从关于具有纸张形状的目标对象的表面的法线方向倾斜的入射方向向该表面发射;
第一光检测系统,配置为包括在镜面反射光的第一光路上布置的第一光检测器,所述镜面反射光从光发射系统发射并且从目标对象镜面反射;以及
第二光检测系统,配置为包括在从目标对象上的入射平面漫反射的漫反射光的第二光路上布置的第二光检测器,所述第二光检测器接收由通过与第一偏振方向垂直的第二偏振方向的线性偏振分量的光学元件来通过的第二光。
2.如权利要求1所述的光学传感器,其中,在从所述目标对象的表面的法线方向上漫反射的所述漫反射光的第二光路上布置所述光学元件和所述第二光检测器。
3.如权利要求1所述的光学传感器,进一步包括处理部件,配置为基于所述第一光检测器的第一输出和所述第二光检测器的第二输出指定所述目标对象。
4.如权利要求1所述的光学传感器,进一步包括:
第三光检测系统,配置为包括在所述目标对象上的入射平面上从目标对象漫反射的漫反射光的第三光路上布置的第三光检测器;以及
处理部件,配置为基于所述第三光检测系统的第三光检测器的第三输出和所述第一光检测系统的第一输出的比率以及所述第二光检测器的第二输出指定所述目标对象。
5.如权利要求1所述的光学传感器,进一步包括:
第三光检测系统,配置为包括在从所述目标对象上的入射平面漫反射的漫反射光的第三光路上布置的第三光检测器,所述第三光检测器接收由通过与所述第一偏振方向垂直的第二偏振方向的线性偏振的光学元件来通过的第三光;以及
处理部件,配置为基于所述第三光检测系统的第三光检测器的第三输出和所述第二光检测器的第二输出的比率以及所述第一光检测器的第一输出指定所述目标对象。
6.如权利要求1所述的光学传感器,进一步包括:
第三光检测系统,配置为包括在从所述目标对象上的入射平面漫反射的漫反射光的第三光路上布置的第三光检测器;
第四光检测系统,配置为包括在从所述目标对象上的入射平面漫反射的漫反射光的第四光路上布置的第四光检测器,所述第四光检测器接收由通过与第一偏振方向垂直的第二偏振方向的线性偏振的光学元件来通过的第四光;以及
处理部件,配置为基于所述第三光检测系统的第三光检测器的第三输出和所述第一光检测器的第一输出的比率以及所述第四光检测系统的所述第四光检测器的第四输出和所述第二光检测器的第二输出的比率指定所述目标对象。
7.如权利要求1所述的光学传感器,进一步包括配置为时间地改变从半导体激光器发射的光的波长的机构。
8.如权利要求1所述的光学传感器,其中,所述机构配置为通过时间地改变供应到所述半导体激光器的驱动电流的程度来时间地改变从所述半导体激光器发射的光的波长。
9.一种用于在所述记录介质上形成图像的图像形成设备,包括:如权利要求1所述的光学传感器。
10.一种光学传感器,包括:
多个测量系统,每一个配置为包括
光发射系统,配置为将第一偏振方向上的线性偏振的第一光发射到记录介质;
镜面反射光检测系统,配置为在从所述光发射系统发射的第一光中检测从所述记录介质镜面反射的镜面反射光;以及
漫反射光检测系统,配置为包括使得在与所述第一偏振方向垂直的第二偏振方向上的第二光通过的光学装置,以在从所述光发射系统发射的第一光中检测从所述记录介质漫反射的漫反射光。
11.如权利要求10所述的光学传感器,其中,从所述多个测量系统的光发射系统发射的所述第一光的照射中心大致为相同的地点。
12.如权利要求10所述的光学传感器,其中,从所述多个测量系统的光发射系统发射的所述第一光的入射角度在所述记录介质上大致为相同,
由所述记录介质的表面与在所述第一光的照射中心和所述多个镜面反射光检测系统之间连接的第一直线形成的第一角度大致为相同,以及
由所述记录介质的表面与在所述第一光的照射中心和所述多个漫反射光检测系统之间连接的第二直线形成的第二角度大致为成直角。
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