[发明专利]用于测量物体的光学特性的设备无效
| 申请号： | 201180067695.X | 申请日： | 2011-02-15 |
| 公开（公告）号： | CN103415243A | 公开（公告）日： | 2013-11-27 |
| 发明（设计）人： | 伯恩德特·沃姆;斯蒂芬·施密特;克劳迪娅·格舍博特;克里斯托夫·德尼茨基 | 申请（专利权）人： | 威孚莱有限公司 |
| 主分类号： | A61B3/12 | 分类号： | A61B3/12;A61B3/10;A61B3/103;A61B3/18 |
| 代理公司： | 北京派特恩知识产权代理事务所(普通合伙) 11270 | 代理人： | 武晨燕;徐川 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 用于 测量 物体 光学 特性 设备 | ||
1.一种用于测量物体（10）的光学特性的设备，包括：波前传感器，所述波前传感器具有辐射源（12）、用于将来自所述辐射源（12）的辐射（25）以所述辐射透射所述物体的方式导向到所述物体（10）上的装置（16、18）以及用于检测来自所述物体的辐射以便检测出由所述物体产生的波前像差的检测器（30；50），其特征在于，
光学相干层析装置，其具有辐射源（12）、用于将辐射测量臂（25）从所述辐射源导向到所述物体上的装置（18）以及用于检测从所述物体反射的辐射（26；58）的检测器（30；50）。
2.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述波前传感器和所述光学相干层析装置具有同一个共用辐射源（12）。
3.根据权利要求1或2所述的设备，其特征在于，所述波前传感器的所述用于导向辐射的装置和所述光学相干层析装置的所述用于将所述辐射测量臂导向到所述物体上的装置是至少部分相同的。
4.根据权利要求2或3中的一项所述的设备，其特征在于，所述共用辐射源（12）是适用于光学相干层析技术的宽带激光器、或者宽带LED、或者超发光二极管、或者超连续光源。
5.根据前述权利要求中的一项所述的设备，其特征在于，所述物体（10）是眼睛。
6.根据前述权利要求中的一项所述的设备，其特征在于，所述波前传感器是Tscherning像差仪。
7.根据权利要求1至5中的一项所述的设备，其特征在于，所述波前传感器是Hartmann-Shack传感器。
8.根据权利要求1至5中的一项所述的设备，其特征在于，所述波前传感器是曲率传感器。
9.根据权利要求1至5中的一项所述的设备，其特征在于，所述波前传感器是数字式波前传感器，特别是数字式波前照相机。
10.根据前述权利要求中的一项所述的设备，其特征在于，所述光学相干层析装置已经特别地适用于地形测量或长度测量。
11.根据前述权利要求中的一项所述的设备，其特征在于，所述波前传感器和所述光学相干层析装置使用部分相同的射线束。
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