[发明专利]用于测量物体的光学特性的设备无效
申请号: | 201180067695.X | 申请日: | 2011-02-15 |
公开(公告)号: | CN103415243A | 公开(公告)日: | 2013-11-27 |
发明(设计)人: | 伯恩德特·沃姆;斯蒂芬·施密特;克劳迪娅·格舍博特;克里斯托夫·德尼茨基 | 申请(专利权)人: | 威孚莱有限公司 |
主分类号: | A61B3/12 | 分类号: | A61B3/12;A61B3/10;A61B3/103;A61B3/18 |
代理公司: | 北京派特恩知识产权代理事务所(普通合伙) 11270 | 代理人: | 武晨燕;徐川 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 测量 物体 光学 特性 设备 | ||
技术领域
本发明涉及一种用于测量物体的光学特性的设备。
在本发明的应用中,具体地,人眼当作待检查的物体被考虑进来。在下文中,将围绕眼睛的光学特性的测量来对本发明进行阐述。
背景技术
眼睛的光学特性的检查是屈光手术(即,为了改变眼睛的屈光力以便治愈或减轻视觉障碍,而针对眼睛的手术干预)的基础。这种类型的一种众所周知的眼科干预是LASIK。在这种情况下,角膜组织通过激光辐射以目标方式被切除,以便改善眼睛的成像特性。已经变得明显的是:改善病人的视觉敏锐度所需要的切除术材料能够利用所谓的射线跟踪在具有良好结果的情况下被确定。在射线跟踪(即,穿过眼睛的射线路径的数学上的回溯)的情况下,最佳的切除轮廓(即,针对角膜组织的切除术的预设)通过射线轨迹的最优化被计算出。为此需要针对眼睛进行大量的测量;具体地,由波前、角膜的外表面和内表面的形貌、晶状体的外表面和内表面以及眼睛的光程所组成的参数必须被确定,以便获得针对病人在屈光手术后的视觉敏锐度的良好效果。
发明内容
本发明的一个根本目的是获得一种利用其能够迅速并且全面地确定出物体(具体地,例如眼睛)的光学特性的设备。
为了该目的,本发明提供了一种设备,该设备中集成有波前传感器和光学相干层析装置。本发明意义上的“光学相干层析装置”被理解为一种用于光学相干层析技术的设备。
波前传感器本身是现有技术中已知的;具体地,所述波前传感器是根据Tscherning原理、Hartmann-Shack原理或者曲率传感器原理来工作的。
用于光学相干层析技术(OCT)的仪器本身也是已知的,对于OCT,使用不同的方法来实现是可能的;具体地,在时域OCT和频域OCT之间加以区别。
具体地,本发明的一个根本发现是:波前传感器和光学相干层析装置能够以非常有利的方式被相互结合,由此,不仅既用于波前确定又用于光学相干层析技术的仪器部件能够被共同地使用,而且同时上述的多个用于射线跟踪所需的参数也能够在高精度的情况下被非常迅速地确定,而不需要病人必须面对不同的测量系统。使用OCT,具体地能够在眼睛上和眼睛内实现长度的确定。
此外,本发明的一个根本发现是:借助于上述的波前确定和光学相干层析技术的集成,待检查物体的多个以最佳方式相互补充的光学参数能够被获得,尤其针对前述的射线跟踪,这些光学参数所需的所有决定因素能够实际上在单个测量流程中被查明。术语“测量”在这里既包含尺寸的定量确定又包含尺寸的相对测定。
本发明能够采用一个且同一个共用辐射源既用于波前传感器又用于光学相干层析装置。
本发明的另一个变型提供了所述设备的光学部件既被用于波前传感器的辐射束,又被用于光学相干层析装置的辐射束。这不仅降低了仪器的复杂性,而且便于对齐,并且提高测量的精度和两个系统所需的测量结果的兼容性。
优选地,适用于光学相干层析技术的宽带激光器、宽带LED或者超发光二极管被当作共用辐射源使用。
附图说明
在下文中,将基于附图对本发明的实施例进行更详细的阐述。
图1为了阐述的目的示意性地示出了一种根据Tscherning原理的波前传感器;
图2示出了一种设备,该设备中集成有根据Tscherning原理的波前传感器和用于光学相干层析技术的装置;
图3示出了根据图2的设备的一种修改,具有两个检测器系统;
图4为了阐述的目的示意性地示出了一种根据Hartmann-Shack原理的波前传感器;
图5示出了一种设备,该设备中集成有根据Hartmann-Shack原理的波前传感器和用于光学相干层析技术的装置;以及
图6示出了一种设备,该设备中集成有根据曲率传感器原理的波前传感器和用于光学相干层析技术的装置。
具体实施方式
根据Tscherning的波前传感器对于本领域技术人员是众所周知的。根据图1,由眼睛10组成的整个光学系统的光学特性能够使用这样的波前传感器来确定。通常在这一点上,由激光器12’产生的辐射14’经由多孔障板16被分离成多条部分光束,所述多条部分光束平行地撞击眼睛10并且在眼睛的视网膜20上产生对应于所述部分光束的单个点形式的图像24。在该过程中,辐射穿过分束器18’。在所述分束器的表面上反射并且不再被使用的辐射达到束阱(beam trap)22。
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