[发明专利]管理装置、管理方法、程序及记录介质有效

专利信息
申请号: 201180072866.8 申请日: 2011-12-28
公开(公告)号: CN103733041A 公开(公告)日: 2014-04-16
发明(设计)人: 杉原史郎 申请(专利权)人: 欧姆龙株式会社
主分类号: G01M99/00 分类号: G01M99/00;G01B21/00;G01D18/00
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 李辉;黄纶伟
地址: 日本京都*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 管理 装置 方法 程序 记录 介质
【权利要求书】:

1.一种管理装置,其管理在生产线上对工件的特性进行测量的多个测量器,该管理装置的特征在于:

所述多个测量器各自对传送过来的工件的特性进行测量,

且该管理装置具备:

特性值取得部,取得由所述多个测量器对传送过来的所述工件的特性进行测量而得的多个特性值;

运算部,根据所述特性值取得部取得的多个特性值,算出表达所述多个测量器之间的测量误差的参数。

2.根据权利要求1所述的管理装置,其特征在于:

所述运算部算出表达第1标准差与第2标准差之间的相互关系的第1值来作为所述参数,其中,所述第1标准差是所述特性值取得部取得的多个特性值的、当将所述多个测量器之间的测量误差取0时的标准差,所述第2标准差是所述特性值取得部取得的多个特性值的标准差。

3.一种管理装置,其管理在生产线上对工件的特性进行测量的多个测量器,该管理装置的特征在于:

具备:

特性值取得部,取得通过所述多个测量器而获得的多个特性值;

运算部,根据所述特性值取得部取得的多个特性值,算出表达所述多个测量器之间的测量误差的参数,

所述运算部算出表达第1标准差与第2标准差之间的相互关系的第1值来作为所述参数,其中,所述第1标准差是所述特性值取得部取得的多个特性值的、当将所述多个测量器之间的测量误差取0时的标准差,所述第2标准差是所述特性值取得部取得的多个特性值的标准差。

4.根据权利要求1~3中任一项所述的管理装置,其特征在于:

在设定有用以判断工件是否为良品的特性值的规格范围,且若特性值落入所述规格范围内就判断工件为良品的情况下,

所述运算部基于所述规格范围而算出第2值来作为所述参数,其中,所述第2值表达两种不良率之间的相互关系,所述两种不良率为:在将所述多个测量器之间的测量误差取0时,根据所述特性值取得部取得的多个特性值而得出的不良率;根据所述特性值取得部取得的多个特性值而得出的不良率。

5.根据权利要求2或3所述的管理装置,其特征在于:

将反复测量同一工件而得的测量值的标准差设为EV,且将在同一条件下所测得的多个工件的测量值的标准差设为PV时,

所述运算部根据所述特性值取得部取得的多个特性值,将满足式子PV′2=PV2+EV2的PV′作为所述第1标准差来算出,且算出所述第2标准差TV,继而将TV/PV′或PV′/TV作为所述第1值来算出。

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