[发明专利]管理装置、管理方法、程序及记录介质有效
申请号: | 201180072866.8 | 申请日: | 2011-12-28 |
公开(公告)号: | CN103733041A | 公开(公告)日: | 2014-04-16 |
发明(设计)人: | 杉原史郎 | 申请(专利权)人: | 欧姆龙株式会社 |
主分类号: | G01M99/00 | 分类号: | G01M99/00;G01B21/00;G01D18/00 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 李辉;黄纶伟 |
地址: | 日本京都*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 管理 装置 方法 程序 记录 介质 | ||
技术领域
本发明涉及一种对生产线上所用的测量器之间的测量误差进行管理的管理装置。
背景技术
以往,制品生产线上具备有对作为最终制品或中间制品的工件的各种特性进行检查的检查步骤。此类检查步骤中会使用用以测定特性的测量器。若测量器测得的测量值落在规定范围内,则判断制品为良品,若未落在规定范围内,则判断制品为不良品。
通常,测量器在进行测量时,对1个工件的处理时间较长,因此会用多个测量器来进行并行处理。像这样采用多个测量器进行并行处理时,测量器间的测量误差便会成为问题。例如,当用3个测量器来测定10个相同的样品时,各测量器的测量值有时会互异。测量器间的这种测量误差将会给制品的特性带来较大的离散影响。另外,测量误差由于会因测量器的内部环境及外部环境的微小变化而增大,因此有随时间增大的倾向。因此,最好能在早期阶段监视测量器间的测量误差并对测量器进行校正等处理。
关于测量器间的测量误差的监视方法,有一种通过直方图来视觉性表达每一测量器的测量值的方法。例如,若仅1个测量器的直方图如图13的(a)那样明显偏离其他测量器的直方图,则可以推测该测量器发生了某种异常。然而实际的生产线中,并不限只出现图13的(a)那样的仅1个直方图明显不同的情况,有时也会如图13的(b)那样,出现各测量器的直方图彼此稍不同的情况。对于后者的情况,仅凭观察图13的(b)的直方图,是难以判断测量器间的测量误差有无的。
另外,当有1个测量器的直方图如图13的(a)那样明显发生偏离时,虽然能够确认出测量器间的测量误差有无,然而这只是在直方图发生了较大偏离时才能确认到。因此,测量器间的测量误差导致发生了较大的经济损失。这里所说的经济损失的原因在于,测量器间的测量误差增大所致的良品/不良品判断错误。
此外,关于测量器间的测量误差的监视方法,还有一种对每一测量器的测量值的平均值进行确认的方法。例如,若如图14的(a)那样仅1个测量器(图中CH6所示)的直方图较大地偏离其他测量器的直方图,那么测量器CH6的测量值的平均值便与所有测量器的测量值的平均值相差“a”。因此能推测该测量器发生了某种异常。然而实际的生产线中,并不限只出现图14的(a)那样的仅1个直方图明显不同的情况,有时也会如图14的(b)那样,出现各测量器的直方图彼此稍不同的情况。对于后者的情况,仅凭各个测量器的测量值的平均值与所有测量器的测量值的平均值之间的差,是难以判断测量器间的测量误差有无的。
对此,ISO/TS16949标准对测定系统分析(MSA;Measurement Systems Analysis)加以了规定。MSA是一种管理测量精度的方法。作为MSA手法的代表例,定有以下的评价法R&R(GRR)。
[数学式1]
其中,TV2是表达测量数据全体离散情况的离散度,PV2是表达对多个制品(工件)在同一条件下进行了测量时的离散情况的离散度,EV2是表达反复离散情况的离散度(同一测量器多次测量同一制品而得的测量值的离散度),AV2是表达测量器间的测量值离散情况的离散度(每单个测量器对同一制品进行多次测量而得的平均值的离散度)。
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