[发明专利]用于确定光学补片的前表面和后表面的方法有效

专利信息
申请号: 201180073371.7 申请日: 2011-09-06
公开(公告)号: CN103797402A 公开(公告)日: 2014-05-14
发明(设计)人: 保利娜·可拉斯 申请(专利权)人: 依视路国际集团(光学总公司)
主分类号: G02C7/02 分类号: G02C7/02;G02C7/08
代理公司: 上海天协和诚知识产权代理事务所 31216 代理人: 张恒康
地址: 法国*** 国省代码: 法国;FR
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摘要:
搜索关键词: 用于 确定 光学 表面 方法
【权利要求书】:

1.用于确定一系列光学补片的前补片表面(S1)集合和后补片表面(S2)集合的方法,通过将这些前补片表面之一与这些后补片表面之一组合来获得每个光学补片,

每个前补片表面为伪球面形状,并且每个后补片表面由一个叠加在伪球面基础形状(BS)上的菲涅耳结构(FS)组成,

该系列光学补片包含分别针对多个处方的至少一个光学补片,通过将出自一个光学倍率值集合的一个光学倍率值与出自一个散光值集合的一个散光值组合而获得每个处方,

该方法包括以下步骤:

/1/为这些光学补片提供至少一个规格条件;

/2/对于一个开始处方而言,确定一个第一后补片表面和一个第一前补片表面,从而使得通过将所述第一后补片表面和所述第一前补片表面组合而获得的光学补片满足该规格条件;

/3/对于一个包含该开始处方的处方开始节段内的每个处方而言,并且除了所述开始处方,计算一个次级前补片表面,从而使得通过将该第一后补片表面与该次级前补片表面组合来获得的光学测试补片与所述处方相对应;

/4/在该处方开始节段内选择一个初级处方子节段,从而使得在步骤/3/中获得的并且与所述初级处方子节段内的处方相对应的所有光学测试补片满足该规格条件;

/5/在该初级处方子节段内选择一个次级处方子节段,从而使得所有处方包含在通过基于所述次级处方子节段的拼贴产生的至少一个处方节段内,其中,通过对该次级处方子节段(SG1)进行平移来获得每个处方节段(SG2-SG11),该次级处方子节段(SG1)被用作一个带有光学倍率和散光坐标的平面内的一个拼贴;

/6/对于通过所述拼贴产生的每个处方节段(SG2-SG11)而言,并且对于相对于所述处方节段在一个与该次级处方子节段(SG1)内的开始处方的位置相似的位置上的处方而言,确定一个具有菲涅耳结构的次级后补片表面,从而使得通过将所述次级后补片表面与该第一前补片表面组合来获得的另一个光学补片与该处方相对应;以及

/7/用以下方式将一个后补片表面(S2)与一个前补片表面(S1)分配给每个处方:

/7a/对于该开始处方而言:在步骤/2/中确定的该第一后补片表面和该第一前补片表面;

/7b/当该处方在该次级处方子节段(SG1)内而非该开始处方内时:

-在步骤/2/中确定该第一后补片表面;以及

-针对所述处方,在步骤/3/中计算该次级前补片表面;

/7c/当该处方在一个通过该拼贴产生的处方节段(SG2-SG11)内而非该次级处方子节段内时:

-针对所述处方节段,在步骤/6/中确定该次级后补片表面;以及

-针对相对于该处方节段在与该当前处方相似的位置上的次级处方子节段内的处方,该前补片表面与在子步骤/7a/或/7b/中分配的那个相同。

2.根据权利要求1所述的方法,其中,该开始处方包括这些光学倍率值中的一个第一值和零散光值,并且可以选择该第一后补片表面的菲涅耳结构(FS),以便自己产生所述第一光学倍率值,并且同一个形状可以用于所述第一后补片表面(S2)和该第一前补片表面(S1)的伪球面基础形状(BS)两者。

3.根据权利要求1或2所述的方法,进一步包括以下步骤:

/8/生产多个带有对应的插入表面的模具嵌件(5,6),这些插入表面对应于如在步骤/7/中分配给至少一个处方的后补片表面(S2)和前补片表面(S1)之一。

4.根据以上权利要求中任一项所述的方法,其中,步骤/1/中提供的规格条件包括以下内容中的至少一个:一个光学补片在所述光学补片内的中心点上的一个小于第一极限的厚度、一个光学补片沿着所述光学补片的外围边缘(E)的小于一个第二极限的最大厚度、针对一个光学补片的一个光学式条件、以及针对其对该后补片表面(S2)的球面化进行校正的处方的最小数量。

5.根据权利要求4所述的方法,其中,步骤/1/中提供的规格条件包括以下内容中的至少一个:该光学补片在该中心点上小于2mm的一个厚度、以及该光学补片沿着该外围边缘(E)的小于3mm的一个最大厚度。

6.根据以上权利要求中任一项所述的方法,其中,每个前补片表面(S1)的形状为或者球面的或者环面的。

7.根据以上权利要求中任一项所述的方法,其中,每个后补片表面(S2)的伪球面基础形状(BS)为或者球面的或者环面的。

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