[发明专利]质量分析数据解析方法以及装置

权利要求书

1.一种质量分析数据解析方法，基于对通过使源自未知物质的前体离子发生一级或多级的裂解而生成的产物离子进行质量分析而得到的MSⁿ谱，来估计上述未知物质的结构，其中，该未知物质是由结构已知的已知物质发生局部的结构变化而产生的，n为1以上的整数，该质量分析数据解析方法的特征在于，包括以下步骤：

a)脱离后结构估计步骤，基于预先提供的上述已知物质的结构式信息、同样预先提供的随着上述结构变化而能够对上述已知物质附加的附加子结构的信息以及根据上述未知物质所对应的质谱获得的源自该未知物质的前体离子的质量信息，来估计随着上述结构变化而未知的脱离子结构从上述已知物质脱离后的脱离后结构式；

b)产物离子结构估计步骤，针对在该脱离后结构估计步骤中列举出的脱离后结构式候选，对使从以该脱离后结构式候选的结构式表示的结构提取出的骨干子结构和上述附加子结构组合时的质量、与根据上述未知物质所对应的MSⁿ谱获得的产物离子的质量的一致性进行判断，由此估计各产物离子的结构式并列举产物离子结构式候选；以及

c)未知物质结构估计步骤，基于通过该产物离子结构估计步骤估计出的多个产物离子所对应的产物离子结构式候选，来搜索能够通过裂解生成这些结构式候选的结构式，由此估计未知物质的结构式。

2.根据权利要求1所述的质量分析数据解析方法，其特征在于，

在提供已知物质的MSⁿ谱来作为追加信息的情况下，在上述产物离子结构估计步骤中，将根据该已知物质的MSⁿ谱判明的源自已知物质的产物离子与根据未知物质的MSⁿ谱判明的源自未知物质的产物离子进行比较，来估计对已知物质的哪个部位附加了附加子结构，从而进行产物离子结构式的限定。

3.根据权利要求1所述的质量分析数据解析方法，其特征在于，

在提供未知物质的组成式来作为追加信息的情况下，在上述脱离后结构估计步骤中，利用根据未知物质的组成与上述附加子结构的差求出的脱离子结构的组成，来进行脱离后结构式候选的限定。

4.根据权利要求1所述的质量分析数据解析方法，其特征在于，

在提供源自未知物质的至少一个产物离子的组成式或者结构式来作为追加信息的情况下，在上述产物离子结构估计步骤中，利用该追加信息省略一部分产物离子的结构式估计、或者进行产物离子结构式候选的限定。

5.根据权利要求1所述的质量分析数据解析方法，其特征在于，

在通过上述脱离后结构估计步骤估计出的脱离后结构式候选存在多个的情况下，针对多个脱离后结构式候选中的每一个，通过上述产物离子结构估计步骤和上述未知物质结构估计步骤来估计未知物质的结构式，求出多个结构式候选。

6.根据权利要求1所述的质量分析数据解析方法，其特征在于，

针对未知物质的多个结构式候选，按可能性从高到低的顺序进行排序，并将结构式候选与该排序一起输出。

7.根据权利要求1所述的质量分析数据解析方法，其特征在于，

在将针对MSⁿ⁺¹谱执行各上述步骤而得到的估计结构式作为未知物质的一个产物离子的结构式候选之后，估计未知物质的结构式，该MSⁿ⁺¹谱是在将未知物质的MSⁿ谱中的具有特定的质量电荷比的离子作为前体离子而执行的MSⁿ⁺¹分析中得到的。

8.根据权利要求1所述的质量分析数据解析方法，其特征在于，

使用在不同的分析条件下针对未知物质获取到的多个MSⁿ谱，通过各上述步骤分别求出未知物质的结构式的候选，将其结果的积累作为未知物质的结构式估计结果进行输出。

9.一种质量分析数据解析装置，基于对通过使源自未知物质的前体离子发生一级或多级的裂解而生成的产物离子进行质量分析而得到的MSⁿ谱，来估计上述未知物质的结构，其中，该未知物质是由结构已知的已知物质发生局部的结构变化而产生的，n为1以上的整数，该质量分析数据解析装置的特征在于，具备：

a)脱离后结构估计单元，其基于预先提供的上述已知物质的结构式信息、同样预先提供的随着上述结构变化而能够对上述已知物质附加的附加子结构的信息以及根据上述未知物质所对应的质谱获得的源自该未知物质的前体离子的质量信息，来估计随着上述结构变化而未知的脱离子结构从上述已知物质脱离后的脱离后结构式；

b)产物离子结构估计单元，其针对由该脱离后结构估计单元列举出的脱离后结构式候选，对使从以该脱离后结构式候选的结构式表示的结构提取出的骨干子结构与上述附加子结构组合时的质量、与根据上述未知物质所对应的MSⁿ谱获得的产物离子的质量的一致性进行判断，由此估计各产物离子的结构式并列举产物离子结构式候选；以及

c)未知物质结构估计单元，其基于由该产物离子结构估计单元估计出的多个产物离子所对应的产物离子结构式候选，来搜索能够通过裂解生成这些结构式候选的结构式，由此估计未知物质的结构式。