[发明专利]质量分析数据解析方法以及装置有效

专利信息
申请号: 201180074026.5 申请日: 2011-10-07
公开(公告)号: CN103842809A 公开(公告)日: 2014-06-04
发明(设计)人: 小泽弘明;山口真一 申请(专利权)人: 株式会社岛津制作所
主分类号: G01N27/62 分类号: G01N27/62
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 质量 分析 数据 解析 方法 以及 装置
【说明书】:

技术领域

本发明涉及一种对由n为2以上的MSn型的质量分析装置获得的MSn谱数据或者利用源内裂解(ISD=In-source Decay)等获得的MS1谱数据进行解析处理,来解析物质的化学结构的数据解析方法以及装置,更为详细地说,涉及一种用于估计如下的未知物质的结构的质量分析数据解析方法以及装置,该未知物质是由结构已知的物质由于某种因素导致结构的一部分发生变化而产生的、或者该未知物质的大部分结构与结构已知的物质相同而仅一部分结构不同。

背景技术

近年来,在以蛋白质为首的各种高分子化合物的结构解析中盛行利用一种能够进行MSn分析的质量分析装置。即,当通过碰撞诱导分解(CID=Collision Induced Dissociation)使源自样本中含有的目标物质的离子裂解时,在依赖于键能等的特定的部位处分子键发生断裂,产生各种各样的产物离子、中性丢失碎片。因此,从由样本生成的各种离子中选择与目标物质相应的具有特定的质量电荷比m/z的离子,通过CID使所选择的该离子裂解,对裂解产生的各种产物离子(碎片离子)进行质量分析来获取MS2谱。在该MS2谱中包含与源自目标物质的各种碎片(包含产物离子、中性丢失碎片)有关的信息,因此能够通过对该MS2谱数据进行解析处理来估计目标物质的化学结构。另外,在仅通过一次CID操作不会使离子裂解到足够小的质量电荷比的情况下,有时还利用反复进行多次CID操作而获得的n为3以上的MSn谱来进行目标物质的结构解析。

另一方面,在装载有由电子离子化法(EI)等产生的离子源的质量分析装置中,通过被称为源内裂解的方法,能够获得在MS1谱中将源自样本成分的离子碎片化而得到的产物离子的峰值。因而,还存在不利用MSn谱而利用像这样观测源自目标物质的产物离子的MS1谱能够进行目标物质的结构解析的情况。下面,将观测产物离子的MS1谱和n为2以上的MSn谱一并地简称为MSn谱。

使用MSn谱估计未知物质的结构的最普通的方法是利用了MSn谱图案的对照的数据库检索。即,对于各种各样的已知化合物,事先将化合物名称、分子量、组成式、结构式、MSn谱图案等登记到鉴定用数据库(有时也称为程序库),如果得到未知物质所对应的实测MSn谱,则通过在规定的检索条件下在数据库上检索该实测MSn谱与峰值图一致或者类似的化合物,来确定未知物质并导出其结构式。作为这样的鉴定用数据库,除了用户自己制作的数据库以外,还能够利用政府机关等公开的各种现有数据库。

一般地,上述那样的鉴定用数据库中存储的数据量庞大,但即使这样也并非无遗漏地收录有作为分析对象的所有化合物。例如在农药、药品或者针对这些物质在生物体内生成的代谢物等中,化合物的基本骨架相同而仅局部结构被置换(例如将甲基置换为乙基、将氯置换为溴)的类似的化合物大量存在。实际上不可能将这样的化合物全部事先收录于鉴定用数据库。因此,即使对这样的化合物进行数据库检索,也经常无法鉴定物质从而无法决定结构式。

为了解决上述问题,在专利文献1所记载的质量分析数据解析方法中,当对知道结构上与结构已知的已知物质类似的未知物质的结构进行解析时,利用与在已知物质、未知物质各自的MSn谱中具有相同的质量电荷比m/z的峰值对应的碎片预测结果与已知的结构变化图案的组合,来估计未知物质的结构。所谓上述结构变化图案,是与置换基的置换、某种成分的附加、或者某种成分的脱离等有关的信息。由此,也能够针对没有被收录于鉴定用数据库的化合物来鉴定化合物并求出结构式。

然而,在专利文献1所记载的质量分析数据解析方法中,针对没有被登记为结构变化图案那样的发生了结构变化的未知物质,不能估计其结构。例如关于药物代谢物的结构,认为是在代谢前的物质中的一部分的子结构脱离之后,在其脱离部位或者完全不同的部位附加其它子结构而得到的结构,但由于代谢前的物质的不同导致脱离的子结构多种多样,难以预先将它们全部登记为结构变化图案。因此,在这样的物质的结构解析中,易于发生无法确定未知物质的结构的情况。

专利文献1:日本特开2007-287531号公报

发明内容

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