[发明专利]图像处理装置、图像处理方法和程序无效
申请号: | 201210003507.3 | 申请日: | 2012-01-06 |
公开(公告)号: | CN102595061A | 公开(公告)日: | 2012-07-18 |
发明(设计)人: | 安间文仁 | 申请(专利权)人: | 索尼公司 |
主分类号: | H04N5/367 | 分类号: | H04N5/367 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 朱胜;苗迎华 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 图像 处理 装置 方法 程序 | ||
1.一种图像处理装置,包括:
纹理方向确定单元,其确定图像的纹理方向;
缺陷像素检测单元,其计算包括多个像素的每一个像素组的像素值平均值,并基于所述像素值平均值的与所述像素组的布置方向对应的差信息来检测缺陷像素位置;以及
校正单元,其校正作为校正目标的、在基于在与由所述纹理方向确定单元确定的所述纹理方向相同的像素组布置方向上的所述差信息检测到的所述缺陷像素位置处的像素值。
2.根据权利要求1所述的图像处理装置,其中,
所述缺陷像素检测单元计算包括共用像素值读取电路的所述多个像素的每一个像素组的所述像素值平均值,并基于所述像素值平均值的与所述像素组的布置方向对应的差信息来检测所述缺陷像素位置。
3.根据权利要求1所述的图像处理装置,其中,
所述缺陷像素检测单元根据与参考值(safe_mW)的差值确定像素是否是缺陷像素,所述参考值是在平坦区域中的多个像素组的平均值,在所述平坦区域中,在像素组的在相同布置方向上的多个相邻布置中,所述多个像素组的平均值的差较小。
4.根据权利要求1所述的图像处理装置,
其中,所述纹理方向确定单元执行用于将水平、垂直、右上和右下这四个方向之一确定为所述纹理方向的处理,并且,
其中,所述缺陷像素检测单元在水平、垂直、右上和右下这四个方向中,基于所述像素值平均值的与所述像素组的布置方向对应的差信息来检测所述缺陷像素位置。
5.根据权利要求1所述的图像处理装置,其中,
所述纹理确定单元基于在以所关注的像素为中心的相邻区域中包括的布置在预定方向上的像素的像素值来计算多个微分值,将所述多个微分值排序,仅选择具有小值的数据,计算统计值,并基于所述统计值的比较来确定所述纹理方向。
6.根据权利要求1所述的图像处理装置,其中,
所述校正单元执行以在所述纹理方向上的相邻像素为参考像素、基于所述参考像素的像素值来确定在所述缺陷像素位置处的像素值的处理。
7.根据权利要求1所述的图像处理装置,其中,
作为处理目标,所述缺陷像素检测单元计算在与由所述纹理方向确定单元确定的所述纹理方向相同的像素组布置方向上的包括多个像素的每一个像素组的像素值平均值,并基于所述像素值平均值的与所述像素组的布置方向对应的差信息来检测所述缺陷像素位置。
8.一种在图像处理装置中执行的图像处理方法,所述方法包括:
使得纹理方向确定单元确定图像的纹理方向;
使得缺陷像素检测单元计算包括多个像素的每一个像素组的像素值平均值,并基于所述像素值平均值的与所述像素组的布置方向对应的差信息来检测缺陷像素位置;以及
使得校正单元校正作为校正目标的、基于在与由所述纹理方向确定单元确定的所述纹理方向相同的像素组布置方向上的所述差信息检测到的所述缺陷像素位置处的像素值。
9.一种程序,用于使得图像处理装置执行图像处理,所述图像处理包括:
使得纹理方向确定单元确定图像的纹理方向;
使得缺陷像素检测单元计算包括多个像素的每一个像素组的像素值平均值,并基于所述像素值平均值的与所述像素组的布置方向对应的差信息来检测缺陷像素位置;以及
使得校正单元校正作为校正目标的、基于在与由所述纹理方向确定单元确定的所述纹理方向相同的像素组布置方向上的所述差信息检测到的所述缺陷像素位置处的像素值。
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