[发明专利]图像处理装置、图像处理方法和程序

说明书

技术领域

本公开涉及图像处理装置、图像处理方法和程序，更具体地，涉及校正从在固态成像器件中包括的缺陷像素输出的信号以抑制由缺陷像素引起的图像质量变差的图像处理装置、图像处理方法和程序。

背景技术

通常，在诸如CCD(电荷耦合器件)和CMOS(互补金属氧化物半导体)传感器的固态成像元件中，可能包括缺陷像素。

具体而言，在这样的固态成像元件中，缺陷像素可能由半导体的局部晶体缺陷引起，并输出异常成像信号，由此引起图像质量变差。例如，存在黑点图像缺陷像素或白点缺陷像素。已经提出了用于校正从缺陷像素输出的信号的各种信号处理方法和电路配置。

在公开用于校正从缺陷像素输出的信号的技术的现有技术中，例如有日本未审查专利申请公布No.2009-290653、日本专利No.4343988和日本专利No.4307318。

发明内容

然而，在如上所述的现有技术中，当缺陷像素连续出现时、或者当在由多个像素共用的电路部分(例如，晶体管)处出现缺陷并且缺陷出现在多个像素中时，难以精确地获取纹理方向，因此难以充分地校正缺陷像素。

当应用现有技术中公开的校正处理时，仅要在用于缺陷校正的相邻区域中校正中心像素。例如，当使用用于缺陷校正的相邻区域在后来阶段执行信号处理并且在除了中心像素之外的像素中包括缺陷时，还没有被校正的缺陷像素可以影响后来阶段的信号处理，并且难以获得校正效果。因此，在现有技术的方法中，必须在对所有像素执行一次缺陷校正后执行以后阶段的信号处理，这引起电路规模增大或处理速度延迟的问题。

期望提供一种图像处理装置、图像处理方法和程序，它们执行确定处理，在所述确定处理中，当确定纹理方向时缺陷的影响减小，以便即使当在相邻区域中存在多个缺陷像素时，也能有效地执行缺陷的检测和校正。

根据本公开的第一实施例，提供了一种图像处理装置，包括：纹理方向确定单元，其确定图像的纹理方向；缺陷像素检测单元，其计算包括多个像素的每一个像素组的像素值平均值，并基于所述像素值平均值的与所述像素组的布置方向对应的差信息来检测缺陷像素位置；以及校正单元，其校正作为校正目标的、在基于在与由所述纹理方向确定单元确定的所述纹理方向相同的像素组布置方向上的所述差信息检测到的所述缺陷像素位置处的像素值。

在根据本公开的实施例的图像处理装置中，所述缺陷像素检测单元可以计算包括共用像素值读取电路的所述多个像素的每一个像素组的所述像素值平均值，并基于所述像素值平均值的与所述像素组的布置方向对应的差信息来检测所述缺陷像素位置。

在根据本公开的实施例的图像处理装置中，所述缺陷像素检测单元可以根据与参考值(safe_mW)的差值确定像素是否是缺陷像素，所述参考值是在平坦区域中的多个像素组的平均值，在所述平坦区域中，在像素组的在相同布置方向上的多个相邻布置中，所述多个像素组单元的平均值的差较小。

在根据本公开的实施例的图像处理装置中，所述纹理方向确定单元可以执行用于将水平、垂直、右上和右下这四个方向之一确定为所述纹理方向的处理，并且，所述缺陷像素检测单元在水平、垂直、右上和右下这四个方向中，基于所述像素值平均值的与所述像素组的布置方向对应的差信息来检测所述缺陷像素位置。

在根据本公开的实施例的图像处理装置中，所述纹理确定单元可以基于在以所关注的像素为中心的相邻区域中包括的布置在预定方向上的像素的像素值来计算多个微分值，将所述多个微分值排序，仅选择具有小值的数据，计算统计值，并基于所述统计值的比较来确定所述纹理方向。

在根据本公开的实施例的图像处理装置中，所述校正单元执行以在所述纹理方向上的相邻像素为参考像素、基于所述参考像素的像素值来确定在所述缺陷像素位置处的像素值的处理。

在根据本公开的实施例的图像处理装置中，作为处理目标，所述缺陷像素检测单元可以计算在与由所述纹理方向确定单元确定的所述纹理方向相同的像素组布置方向上的包括多个像素的每一个像素组的像素值平均值，并基于所述像素值平均值的与所述像素组的布置方向对应的差信息来检测所述缺陷像素位置。