[发明专利]一种对数据进行查错的方法和装置有效

专利信息
申请号: 201210006428.8 申请日: 2012-01-10
公开(公告)号: CN103197984A 公开(公告)日: 2013-07-10
发明(设计)人: 郑观东 申请(专利权)人: 炬力集成电路设计有限公司
主分类号: G06F11/10 分类号: G06F11/10
代理公司: 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 代理人: 黄志华
地址: 519085 广东省珠*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 数据 进行 查错 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种对数据进行查错的方法,其特征在于,包括:

对接收到的数据进行错误检查和纠正ECC检验,得到检验值;

对所述检验值中出错位的位数进行计数;

根据计数值判断所述接收数据的出错情况。

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述接收数据的位宽为24位,所述检验值的位宽为6位。

3.如权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据计数值判断接收数据的出错情况包括:

当计数值为0时,判定所述24位数据正确;

当计数值为3或5时,判定所述24位数据出现1位错误;

当计数值非0、3和5时,判定所述24位数据出现2位错误。

4.如权利要求3所述的方法,其特征在于,在执行所述判定24位数据出现1位错误之后,还包括:

对所述24位数据进行1位纠错。

5.如权利要求4所述的方法,其特征在于,所述对24位数据进行1位纠错包括:

当计数值为3时,对所述24位数据的前20位进行纠错,后4位不变;

当计数值为5时,对所述24位数据的后4位进行纠错,前20位不变。

6.如权利要求4所述的方法,其特征在于,所述对24位数据进行1位纠错具体包括:

通过与运算定位所述24位数据的出错位置;

对所述出错位置的数据进行求反运算,得到正确的数据。

7.一种对数据进行查错的装置,其特征在于,包括:

检验模块,用于对接收到的数据进行ECC检验,得到检验值;

计数模块,用于对所述检验值中出错位的位数进行计数;

判断模块,用于根据计数值判断所述接收数据的出错情况。

8.如权利要求7所述的装置,其特征在于,所述接收数据的位宽为24位,所述检验值的位宽为6位。

9.如权利要求8所述的装置,其特征在于,所述判断模块包括:

第一判定单元,用于当计数值为0时,判定所述24位数据正确;

第二判定单元,用于当计数值为3或5时,判定所述24位数据出现1位错误;

第三判定单元,用于当计数值非0、3和5时,判定所述24位数据出现2位错误。

10.如权利要求9所述的装置,其特征在于,还包括:

纠错模块,用于对所述24位数据进行1位纠错。

11.如权利要求10所述的装置,其特征在于,所述纠错模块包括:

第一纠错单元,用于当计数值为3时,对所述24位数据的前20位进行纠错,后4位不变;

第二纠错单元,用于当计数值为5时,对所述24位数据的后4位进行纠错,前20位不变。

12.如权利要求11所述的装置,其特征在于,所述第一纠错单元包括:

第一定位子单元,用于通过与运算定位所述24位数据的前20位的出错位置;

第一校正子单元,用于对所述出错位置的数据进行求反运算,得到正确的数据;

所述第二纠错单元包括:

第二定位子单元,用于通过与运算定位所述24位数据的后4位的出错位置;

第二校正子单元,用于对所述出错位置的数据进行求反运算,得到正确的数据。

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