[发明专利]一种对数据进行查错的方法和装置有效

专利信息
申请号: 201210006428.8 申请日: 2012-01-10
公开(公告)号: CN103197984A 公开(公告)日: 2013-07-10
发明(设计)人: 郑观东 申请(专利权)人: 炬力集成电路设计有限公司
主分类号: G06F11/10 分类号: G06F11/10
代理公司: 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 代理人: 黄志华
地址: 519085 广东省珠*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 数据 进行 查错 方法 装置
【说明书】:

技术领域

发明涉及到数据校验技术领域,特别涉及到一种对数据进行查错的方法和装置。

背景技术

ECC(Error Correcting Code,错误检查和纠正)是一种实现数据错误检查和纠正的技术,广泛使用于数据传输。

目前常用的纠错码查错或纠错方法是,根据移动产业处理器接口提供的纠错解码表(如表1所示),采用查找解码表的方法完成纠错码的查错和纠错,其过程如图1所示:

表1纠错解码表

步骤S10、对接收的数据进行检验:数据接收端将接收到的6位纠错码与24位数据生成的6位纠错码进行位异或操作,结果标识为Syndrome,位宽为6位。

步骤S11、根据纠错解码表查错:Syndrome的位的值为1则表示数据出错,移动产业处理器接口对Syndrome的值的定义情况如下:

如果Syndrome的值为0,那么接收的24位数据没有出现出错的情况;

如果Syndrome的值不为0,且在纠错解码表中,那么接收的数据有1位出错;

如果Syndrome的值不为0,且不在纠错解码表中,那么接收的数据有2位出错。

其中,d5、d4、d3、d2、d1和d0表示24位数据中被纠错的位置的二进制码,d5为高位,d0为低位,表内数据是Syndrome的值。

步骤S12、根据上述查错结果再对接收的24位数据进行输出、纠错或报错。

参照图2,图2所示为上述方法的电路图,可以看出,上述方法由于使用表1所示的ECC解码表,使得实现的电路面积较大,而且对EDA(Electronic DesignAutomation,电子设计自动化)工具的语法解释的依赖性比较大。

发明内容

本发明的主要目的为提供一种对数据进行查错的方法和装置,旨在节约电路面积。

本发明提出一种对数据进行查错的方法,包括:

对接收到的数据进行ECC检验,得到检验值;

对所述检验值中出错位的位数进行计数;

根据计数值判断所述接收数据的出错情况。

优选地,所述接收数据的位宽为24位,所述检验值的位宽为6位。

优选地,所述根据计数值判断接收数据的出错情况包括:

当计数值为0时,判定所述24位数据正确;

当计数值为3或5时,判定所述24位数据出现1位错误;

当计数值非0、3和5时,判定所述24位数据出现2位错误。

优选地,在执行所述判定24位数据出现1位错误之后,还包括:

对所述24位数据进行1位纠错。

优选地,所述对24位数据进行1位纠错包括:

当计数值为3时,对所述24位数据的前20位进行纠错,后4位不变;

当计数值为5时,对所述24位数据的后4位进行纠错,前20位不变。

优选地,所述对24位数据进行1位纠错具体包括:

通过与运算定位所述24位数据的出错位置;

对所述出错位置的数据进行求反运算,得到正确的数据。

本发明还提出一种对数据进行查错的装置,包括:

检验模块,用于对接收到的数据进行ECC检验,得到检验值;

计数模块,用于对所述检验值中出错位的位数进行计数;

判断模块,用于根据计数值判断所述接收数据的出错情况。

优选地,所述接收数据的位宽为24位,所述检验值的位宽为6位。

优选地,所述判断模块包括:

第一判定单元,用于当计数值为0时,判定所述24位数据正确;

第二判定单元,用于当计数值为3或5时,判定所述24位数据出现1位错误;

第三判定单元,用于当计数值非0、3和5时,判定所述24位数据出现2位错误。

优选地,所述装置还包括:

纠错模块,用于对所述24位数据进行1位纠错。

优选地,所述纠错模块包括:

第一纠错单元,用于当计数值为3时,对所述24位数据的前20位进行纠错,后4位不变;

第二纠错单元,用于当计数值为5时,对所述24位数据的后4位进行纠错,前20位不变。

优选地,所述第一纠错单元包括:

第一定位子单元,用于通过与运算定位所述24位数据的前20位的出错位置;

第一校正子单元,用于对所述出错位置的数据进行求反运算,得到正确的数据;

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