[发明专利]一种对数据进行查错的方法和装置有效
申请号: | 201210006428.8 | 申请日: | 2012-01-10 |
公开(公告)号: | CN103197984A | 公开(公告)日: | 2013-07-10 |
发明(设计)人: | 郑观东 | 申请(专利权)人: | 炬力集成电路设计有限公司 |
主分类号: | G06F11/10 | 分类号: | G06F11/10 |
代理公司: | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人: | 黄志华 |
地址: | 519085 广东省珠*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 数据 进行 查错 方法 装置 | ||
技术领域
本发明涉及到数据校验技术领域,特别涉及到一种对数据进行查错的方法和装置。
背景技术
ECC(Error Correcting Code,错误检查和纠正)是一种实现数据错误检查和纠正的技术,广泛使用于数据传输。
目前常用的纠错码查错或纠错方法是,根据移动产业处理器接口提供的纠错解码表(如表1所示),采用查找解码表的方法完成纠错码的查错和纠错,其过程如图1所示:
表1纠错解码表
步骤S10、对接收的数据进行检验:数据接收端将接收到的6位纠错码与24位数据生成的6位纠错码进行位异或操作,结果标识为Syndrome,位宽为6位。
步骤S11、根据纠错解码表查错:Syndrome的位的值为1则表示数据出错,移动产业处理器接口对Syndrome的值的定义情况如下:
如果Syndrome的值为0,那么接收的24位数据没有出现出错的情况;
如果Syndrome的值不为0,且在纠错解码表中,那么接收的数据有1位出错;
如果Syndrome的值不为0,且不在纠错解码表中,那么接收的数据有2位出错。
其中,d5、d4、d3、d2、d1和d0表示24位数据中被纠错的位置的二进制码,d5为高位,d0为低位,表内数据是Syndrome的值。
步骤S12、根据上述查错结果再对接收的24位数据进行输出、纠错或报错。
参照图2,图2所示为上述方法的电路图,可以看出,上述方法由于使用表1所示的ECC解码表,使得实现的电路面积较大,而且对EDA(Electronic DesignAutomation,电子设计自动化)工具的语法解释的依赖性比较大。
发明内容
本发明的主要目的为提供一种对数据进行查错的方法和装置,旨在节约电路面积。
本发明提出一种对数据进行查错的方法,包括:
对接收到的数据进行ECC检验,得到检验值;
对所述检验值中出错位的位数进行计数;
根据计数值判断所述接收数据的出错情况。
优选地,所述接收数据的位宽为24位,所述检验值的位宽为6位。
优选地,所述根据计数值判断接收数据的出错情况包括:
当计数值为0时,判定所述24位数据正确;
当计数值为3或5时,判定所述24位数据出现1位错误;
当计数值非0、3和5时,判定所述24位数据出现2位错误。
优选地,在执行所述判定24位数据出现1位错误之后,还包括:
对所述24位数据进行1位纠错。
优选地,所述对24位数据进行1位纠错包括:
当计数值为3时,对所述24位数据的前20位进行纠错,后4位不变;
当计数值为5时,对所述24位数据的后4位进行纠错,前20位不变。
优选地,所述对24位数据进行1位纠错具体包括:
通过与运算定位所述24位数据的出错位置;
对所述出错位置的数据进行求反运算,得到正确的数据。
本发明还提出一种对数据进行查错的装置,包括:
检验模块,用于对接收到的数据进行ECC检验,得到检验值;
计数模块,用于对所述检验值中出错位的位数进行计数;
判断模块,用于根据计数值判断所述接收数据的出错情况。
优选地,所述接收数据的位宽为24位,所述检验值的位宽为6位。
优选地,所述判断模块包括:
第一判定单元,用于当计数值为0时,判定所述24位数据正确;
第二判定单元,用于当计数值为3或5时,判定所述24位数据出现1位错误;
第三判定单元,用于当计数值非0、3和5时,判定所述24位数据出现2位错误。
优选地,所述装置还包括:
纠错模块,用于对所述24位数据进行1位纠错。
优选地,所述纠错模块包括:
第一纠错单元,用于当计数值为3时,对所述24位数据的前20位进行纠错,后4位不变;
第二纠错单元,用于当计数值为5时,对所述24位数据的后4位进行纠错,前20位不变。
优选地,所述第一纠错单元包括:
第一定位子单元,用于通过与运算定位所述24位数据的前20位的出错位置;
第一校正子单元,用于对所述出错位置的数据进行求反运算,得到正确的数据;
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