[发明专利]一种射频指标的测试系统有效

专利信息
申请号: 201210011328.4 申请日: 2012-01-13
公开(公告)号: CN102571239A 公开(公告)日: 2012-07-11
发明(设计)人: 成军平;田宏;余飞;张天鹏;刘彬;张志锋;邵立群 申请(专利权)人: 中兴通讯股份有限公司
主分类号: H04B17/00 分类号: H04B17/00
代理公司: 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 代理人: 李健;龙洪
地址: 518057 广东省深圳市南山*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 射频 指标 测试 系统
【权利要求书】:

1.一种射频指标的测试系统,包括:多工器、射频单元(RRU)、测试仪和信号源,其中,所述多工器的公共端口与RRU的一天线端口连接,

所述多工器中的一个或多个带通滤波器接口通过第一衰减器连接到测试仪,用于测试下行信号射频指标;

所述信号源的第一输出口直接与多工器中的第一带阻滤波器接口连接,用于输出上行干扰信号,所述信号源的第二输出口通过第二衰减器与多工器中的第二带阻滤波器接口连接,用于输出上行有用信号,进而测试上行信号射频指标。

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于:

所述下行信号射频指标包括:下行信号的功率、矢量误差、占用带宽和频率误差中的一个或多个;

所述上行信号射频指标包括:上行信号的灵敏度、动态范围、临道选择性、信道内选择性和互调指标中的一个或多个。

3.一种射频指标的测试系统,包括:多工器、RRU和信号源,其中,所述多工器的公共端口与RRU的一天线端口连接,

所述信号源的第一输出口直接与所述多工器中的第一带阻滤波器接口连接,用于输出大于预定功率且不落在下行信号频段内的上行干扰信号;

所述信号源的第二输出口通过衰减器与所述多工器中的第二带阻滤波器接口连接,用于输出上行有用信号,

所述系统,用于进行在下行信号达到额定功率的情况下的阻塞指标测试。

4.一种射频指标的测试系统,包括:多工器、RRU和信号源,其中,所述多工器的公共端口与RRU的一天线端口连接,

所述信号源的第一输出口与所述多工器中的一带通滤波器接口连接,用于输出大于预定功率且落在下行信号频段内的上行干扰信号;

所述信号源的第二输出口通过衰减器与所述多工器中的一带阻滤波器接口连接,用于输出上行有用信号,

所述系统,用于进行在下行信号达到额定功率的情况下的阻塞指标测试。

5.一种射频指标的测试系统,包括:多工器、RRU和测试仪,其中,所述多工器的公共端口与RRU的一天线端口连接,

所述多工器中的一带阻滤波器接口与所述测试仪连接,用于进行下行杂散信号测试。

6.一种射频指标的测试系统,包括:多工器、RRU、测试仪和信号源,其中,所述多工器的公共端口与RRU的一天线端口连接,

所述多工器中的一带通滤波器接口与一环形器连接,所述环形器通过第一衰减器连接到测试仪;

所述信号源的第一输出口与所述环形器连接,用于输出上行干扰信号;

所述信号源的第二输出口通过衰减器与所述多工器中的一带阻滤波器接口连接,用于输出上行有用信号,

所述系统用于进行下行发射互调测试。

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